About: Scanning electron microscopy of non-conductive specimens

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Scanning electron microscopy of non-conductive specimens Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt
rdfs:seeAlso	http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IBS2065017
Description	Tým navrhovatele vytvořil původní metodu %22nenabíjející%22 rastrovací elektronové mikroskopie nevodivých preparátů, spočívající ve využití kritické energie, při níž je proud emitovaných elektronů roven proudu dopadajícímu. Dále byla navržena a odzkoušena metoda měření kritické energie pomocí sledování časového průběhu videosignálu během nabíjení preparátu. V rámci grantového projektu byla metoda ověřena na experimentálním zařízení, a to včetně možnosti počítačového řízení umožňujícího rutinní nasazení metody v mikroskopické praxi. Cílemm projektu je uvedenou metodu převést do podoby odpovídající moernímu elektronovému mikroskopu. To zahrnuje nový elektronově optický návrh sestavy katodové čočky a jeho experimentální ověření, a zejména vypracování algoritmů pro realizaci a řízení procesu měření kritické energie, zpracování dat a snímání obrazu při optimální energii elektronů. Podstatné je přizpůsobit algoritmy podmínkám elektronového mikroskopu plně řízeného počítačem. The proposers team has created an original method for a %22non-charging%22 scanning electron microscopy of non-conductive speciment, based on utilization of the critical energy at which the impacting and emitted currents equal. We also designed and verified a method of measurement of the critical energy by means of recording the videosignal vs. time dependence caused by charging. In the frame of a grant project, the mothod was verified on an experimental equipment, including principles of computer control enabling one to implement the above method into micriscopical practice. The aim of this project is to elaborate the method to a level corresponding to a modern electron microscope. This includes redesigning the electron optical assembly of the cathode lens and its experimental verification, and particularly develepment of algorithms for energy measurement, data processing and image acquisition, suitable for use in the environment of a fully computer-controlled microscope. (en)
Title	Scanning electron microscopy of non-conductive specimens (en) Rastrovací elektronová mikroskopie nevodivých vzorků
skos:notation	IBS2065017
http://linked.open...avai/cep/aktivita	Scheme of targeted research and development support
http://linked.open...kovaStatniPodpora	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IBS2065017/celkovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IBS2065017/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV	2003-06-25 (xsd:date)
http://linked.open...i/cep/druhSouteze	VS - Veřejná soutěž ve výzkumu a vývoji
http://linked.open...ep/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open.../cep/fazeProjektu	1177059
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
http://linked.open...hodnoceniProjektu	V - Vynikající výsledky (s mezinárodním významem apod.). Zároveň byly splněny cíle a předpokládané výsledky uvedené ve smlouvě / rozhodnutí o poskytnutí podpory.
http://linked.open.../cep/klicovaSlova	scanning electron microscopy; non-conductive specimens; SEM imaging of insulators; charging; critical energy (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...inujicichPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu	1 (xsd:int)
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu	0 (xsd:int)
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV	9 (xsd:int)
http://linked.open...enychVysledkuVRIV	9 (xsd:int)
http://linked.open...iciPoslednihoRoku	2003
http://linked.open...atUdajeProjZameru	2003
http://linked.open.../vavai/cep/soutez	SAV0-SS2000
http://linked.open...usZobrazovaneFaze	DUU
http://linked.open...ai/cep/typPojektu	P - Projekt výzkumu a vývoje financovaný ze státního rozpočtu
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus FS - Lékařská zařízení, přístroje a vybavení
http://linked.open...jektu+dodavatelem	Řešením projektu byla dopracována originální metoda elektronově mikroskopického zobrazování nevodivých vzorků, založená na kritické energii elektronů, do podoby aplikace u moderního rastrovacího elektronového mikroskopu plně řízeného počítačem. (cs)
http://linked.open...tniCyklusProjektu	ZBKU
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo	scanning electron microscopy charging non-conductive specimens SEM imaging of insulators
is http://linked.open...vavai/riv/projekt of	Computer Controlled Low Energy SEM. Application of low-energy backscattered electron detection in the inspection of semiconductor devices technology. Application of low-energy backscattered electron detection in the inspection of semiconductor devices technology. Imaging of semiconductor structures in environmental SEM. Imaging of semiconductor structures in environmental SEM. Imaging of the boron doping in silicon using low energy SEM. Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu Dimension measurement in a cathode lens equipped low-energy SEM. Specimen Charging and Detection of Signal from Non-conductors in a Cathode Lens-Equipped Scanning Electron Microscope.
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IBS2065017/2000/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IBS2065017/2001/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IBS2065017/2002/ico%3A68081731 http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/ucast/IBS2065017/2003/ico%3A68081731

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 110 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software