About: Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Byla vypracována, ověřena a uplatněna metoda rastrovací elektronové mikroskopie při tzv. kritické energii, při níž je počet emitovaných elektronů v průměru shodný s počtem dopadajících elektronů a v preparátu zůstává zachována nábojová rovnováha. To umožňuje nenabíjející mikroskopii nevodičů i ve vysokém vakuu. Metoda je založena na měření časového vývoje obrazového signálu z poprvé osvětleného místa preparátu. Energie dopadu elektronů je řízena předpětím preparátu tvořícího katodu tzv. katodové čočky. Byla vypracována, ověřena a uplatněna metoda rastrovací elektronové mikroskopie při tzv. kritické energii, při níž je počet emitovaných elektronů v průměru shodný s počtem dopadajících elektronů a v preparátu zůstává zachována nábojová rovnováha. To umožňuje nenabíjející mikroskopii nevodičů i ve vysokém vakuu. Metoda je založena na měření časového vývoje obrazového signálu z poprvé osvětleného místa preparátu. Energie dopadu elektronů je řízena předpětím preparátu tvořícího katodu tzv. katodové čočky. (cs) Method has been elaborated, proved and implemented for scanning electron microscopy at the critical energy at which the average number of emitted electrons is identical with the number of incident electrons so the charge balance in the sample is preserved. This enables one to perform a non-charging microscopy of non-conductors even in a high vacuum. The method is based on measurement of time development of the image signal from a first illuminated sample site. Energy of electron impact is controlled via bias of the sample serving as cathode of so-called cathode lens. (en)
Title	Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu (cs) Non-charging high vacuum mode of the scanning electron microscope (en)
skos:prefLabel	Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu (cs) Non-charging high vacuum mode of the scanning electron microscope (en)
skos:notation	RIV/68081731:_____/02:00047173!RIV06-AV0-68081731
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(IBS2065017)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Frank, Luděk
http://linked.open.../riv/druhVysledku	T - Prototyp, poloprovoz, ověřená technologie (uplatněná ve výrobě atd.), SW produkt, výsledky aplikovaného výzkumu promítnuté do právních předpisů a norem
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Podstatné zjednodušení preparace nevodivých materiálů a živé hmoty pro mikroskopické pozorování, rozšíření rejstříku pracovních režimů mikroskopů.
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	655333
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/02:00047173
http://linked.open...terniIdentifikace	CRITEN
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	critical energy microscopy; electron microscopy of nonconductors; scanning electron microscopy (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	critical energy microscopy electron microscopy of nonconductors scanning electron microscopy
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[13901660B272]
http://linked.open.../licencniPoplatek	A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
http://linked.open...okalizaceVysledku	Tescan s.r.o., Brno
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Scanning electron microscopy of non-conductive specimens
http://linked.open...UplatneniVysledku	2002
http://linked.open...echnickeParametry	Metoda automatizovaného stanovení kritické energie elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu s katodovou čočkou, při níž se preparát nenabíjí, a procedura snímání lokálním nábojem nepoškozených mikrosnímků nevodivých preparátů ve vysokém vakuu.
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Frank, Luděk
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Ústav přístrojové techniky AV ČR
http://linked.open...itiJinymSubjektem	A - Nabytí licence je nutné vždy

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 77 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software