| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| rdfs:seeAlso
| |
| Description
| - The project aim is a developement of a techniques and methodology for verification of the reliability of integrated circuits produced by nowadays technologies, usually described as nano-scale IC. These technologies (advanced CMOS processes, CNT - Carbon Nano-Tube, graphene, Si-nanowires, etc.) requires a different approach in terms of reliability. It is necessary to take into account new fault models and new test techniques, to implement new approaches that enable continuous evaluation of the critical parameters of the integrated circuits. Aim of the project is to analyze the fault types and create new tools for the preparation of test data which can cover other types of failures. These objectives are focused both on a standard ASIC circuits and on circuits which allow the change of the functionality using partial or full reconfiguration (FPGA circuits) - part of this solution is the methodology of implementation of desired functions to these circuits and also implementation in multiprocessor systems. (en)
- Cílem projektu je vytvoření metodiky pro posouzení a ověření spolehlivosti obvodů vyráběných moderními výrobními technologiemi tzv. nano-scale obvodů. Tyto technologie (nejen zdokonalené CMOS procesy, ale i technologie Carbon-Nano-Tube, Graphen, Si-nanowires atp.) vyžadují odlišný přístup z hlediska spolehlivosti. Je třeba brát v úvahu nové modely poruch, nové testovací techniky, implementovat přístupy, které umožní průběžné vyhodnocování parametrů kritických obvodů a pod. Cílem projektu tedy je analýza typů poruch nových technologií, vytvoření nových či zdokonalení existujících nástrojů pro přípravu testovacích dat se zahrnutím dalších typů poruch a v neposlední řadě i vytvoření metodiky pro vyhodnocování spolehlivosti obvodů. Tyto cíle jsou zaměřeny jak na standardní ASIC obvody, tak na obvody umožňující změnu funkce pomocí částečné i úplné rekonfigurace (FPGA obvody) - součástí řešení je tedy i metodika implementace požadovaných funkcí do těchto obvodů a implementace do víceprocesorových systémů.
|
| Title
| - Improvement in Reliability of Nano-scale circuits (en)
- SPONA - Zvýšení spolehlivosti nanoscale obvodů
|
| skos:notation
| |
| http://linked.open...avai/cep/aktivita
| |
| http://linked.open...kovaStatniPodpora
| |
| http://linked.open...ep/celkoveNaklady
| |
| http://linked.open...datumDodatniDoRIV
| |
| http://linked.open...i/cep/druhSouteze
| |
| http://linked.open...ep/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open.../cep/fazeProjektu
| |
| http://linked.open...ai/cep/hlavniObor
| |
| http://linked.open...vai/cep/kategorie
| |
| http://linked.open.../cep/klicovaSlova
| - spolehlivost; odolnost proti poruchám; číslicové systémy; programovatelné obvody; rekonfigurovatelné obvody; komprese testovacích dat (en)
|
| http://linked.open...ep/partnetrHlavni
| |
| http://linked.open...inujicichPrijemcu
| |
| http://linked.open...cep/pocetPrijemcu
| |
| http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
| |
| http://linked.open.../pocetVysledkuRIV
| |
| http://linked.open...enychVysledkuVRIV
| |
| http://linked.open...lneniVMinulemRoce
| |
| http://linked.open.../prideleniPodpory
| |
| http://linked.open...iciPoslednihoRoku
| |
| http://linked.open...atUdajeProjZameru
| |
| http://linked.open.../vavai/cep/soutez
| |
| http://linked.open...usZobrazovaneFaze
| |
| http://linked.open...ai/cep/typPojektu
| |
| http://linked.open...ep/ukonceniReseni
| |
| http://linked.open.../cep/vedlejsiObor
| |
| http://linked.open...ep/zahajeniReseni
| |
| http://linked.open...tniCyklusProjektu
| |
| http://linked.open.../cep/klicoveSlovo
| - spolehlivost
- odolnost proti poruchám
- programovatelné obvody
- rekonfigurovatelné obvody
- číslicové systémy
|
| is http://linked.open...vavai/riv/projekt
of | |
| is http://linked.open...vavai/cep/projekt
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)