| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| rdfs:seeAlso
| |
| Description
| - The project includes theoretical, experimental and application work in the field of diagnostics of digital systems with a special focus on built-in self test BIST equipment The goal of the project is essentially expressed in the following points: Research of finite fields which are suitable for use in built-in test pattern generators Finding a methodology of pseudoexhaustive test pattern generator design with reduced number of test patterns without a loss of fault coverage, implementation of the methodology into a design software Proving the designed test pattern generator properties by applying standard diagnostic experiments (ISCAS Benchmarks), comparing the results with existing methods Applying the theoretical results on a prototypintegrated circuit designed for industrial use Publication of research results, promoting a co-operation with European countries in the field of design and diagnostics of digital systems. Participation in the formulation of IEEE 1 149.4 standard (B (en)
- Projekt zahrnuje teoretické, experimentální a aplikační práce v oblasti diagnostiky číslicových systémů, s důrazem na vestavěné diagnostické prostředky. Cílem projektu je zejména: Výzkum algebraických struktur, vhodných pro použití ve vestavěných generátorech testů. Vypracování metodiky návrhu pseudotriviálních generátorů testovacích vzorků s redukovaným počtem testovacích kroků a implementace navržených metod do návrhového systému. Ověření získaných výsledků na standardních zkušebních úlohách prdiagnostiku (ISCAS Benchmarks). Aplikování výsledků výzkumu na fyzickém integrovaném obvodě. Publikace výsledků výzkumu, umožnění průmyslových aplikací a hlubší zapojení pracoviště navrhovatele a spolunavrhovatelů do společného výzkumu evropských zemí v oblasti návrhu a diagnostiky elektronických systémů zemí EC. Podpora spolupráce, výměny odborných poznatků a společná realizace výzkumu pracovišť v ČR, zabývajících se diagnostikou elektronických obvodů.
|
| Title
| - Research and application of built-in self test equipment in integrated circuits (en)
- Výzkum a aplikace vestavěných diagnostických prostředků v integrovaných obvodech
|
| skos:notation
| |
| http://linked.open...avai/cep/aktivita
| |
| http://linked.open...kovaStatniPodpora
| |
| http://linked.open...ep/celkoveNaklady
| |
| http://linked.open...ep/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open.../cep/fazeProjektu
| |
| http://linked.open...ai/cep/hlavniObor
| |
| http://linked.open...hodnoceniProjektu
| |
| http://linked.open...ep/partnetrHlavni
| |
| http://linked.open...inujicichPrijemcu
| |
| http://linked.open...cep/pocetPrijemcu
| |
| http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
| |
| http://linked.open.../pocetVysledkuRIV
| |
| http://linked.open...enychVysledkuVRIV
| |
| http://linked.open...iciPoslednihoRoku
| |
| http://linked.open...atUdajeProjZameru
| |
| http://linked.open...usZobrazovaneFaze
| |
| http://linked.open...ai/cep/typPojektu
| |
| http://linked.open.../cep/vedlejsiObor
| |
| http://linked.open...jektu+dodavatelem
| - Odborným přínosem projektu byla realizace simulátoru struktur a metodiky v minimalizaci testovacích kroků, stavba obvodu FPGA s vestavenými diagnostickými prostřdky a vytvoření standardního postupu návrhu vestavené diagnostiky. Dalším významem bylo zahrn (cs)
|
| http://linked.open...tniCyklusProjektu
| |
| is http://linked.open...vavai/riv/projekt
of | |
| is http://linked.open...vavai/cep/projekt
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)