About: Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Coordinate position sensing allows upgrading the imaging microscope techniques up to quantified measuring. Especially imaging techniques in the micro and nanoworld overcoming the barrier of resolution given by the wavelength of visible light are a suitable basis for design of measuring systems with the best resolution possible. Atomic force microscopy, other local probe techniques and electron microscopy when equipped with precision positioning and measurement of the probe and sample may become a tool for nanometrology – measurement of geometrical quantities on the nanoscale. Description of such a measuring and positioning system is a subject of this article. (en) Souřadnicové odměřování polohy umožňuje povýšit zobrazovací techniky mikroskopů na kvantifikovatelné měření. Zvláště techniky zobrazování v mikro a nanosvětě, překračující bariéru rozlišení danou vlnovou délkou viditelného světla, jsou vhodnými metodami, na jejichž základě lze konstruovat měřící systémy s nejlepším rozlišením. Mikroskopie atomárních sil, ostatní sondové mikroskopické metody a elektronová mikroskopie se po doplnění o přesné polohování a odměřování polohy sondy a vzorku mohou stát nástrojem pro nanometrologii - měření geometrických veličin v nanosvětě. Popis takového měřícího a polohovacího systému je předmětem tohoto článku. Souřadnicové odměřování polohy umožňuje povýšit zobrazovací techniky mikroskopů na kvantifikovatelné měření. Zvláště techniky zobrazování v mikro a nanosvětě, překračující bariéru rozlišení danou vlnovou délkou viditelného světla, jsou vhodnými metodami, na jejichž základě lze konstruovat měřící systémy s nejlepším rozlišením. Mikroskopie atomárních sil, ostatní sondové mikroskopické metody a elektronová mikroskopie se po doplnění o přesné polohování a odměřování polohy sondy a vzorku mohou stát nástrojem pro nanometrologii - měření geometrických veličin v nanosvětě. Popis takového měřícího a polohovacího systému je předmětem tohoto článku. (cs)
Title	Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy (cs) Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes (en)
skos:prefLabel	Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy (cs) Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes (en)
skos:notation	RIV/68081731:_____/12:00385756!RIV13-GA0-68081731
http://linked.open...avai/predkladatel	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...avai/riv/aktivita	I P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	I, P(ED0017/01/01), P(GA102/09/1276), P(GPP102/11/P820), P(TA02010711), P(TE01020233)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	10
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2013
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Čížek, Martin Hrabina, Jan Číp, Ondřej Lazar, Josef Šerý, Mojmír
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	146504
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/12:00385756
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	coordinate position sensing; nanometrology; 3D position; atomic force microscopy; local probe techniques; electron microscopy (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	electron microscopy 3D position coordinate position sensing local probe techniques nanometrology atomic force microscopy
http://linked.open...odStatuVydavatele	CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[5CA64D4094BF]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Jemná mechanika a optika
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BH
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Advanced Microscopy and Spectroscopy Platform for Research and Development in Nano and Microtechnologies - AMISPEC APPLICATION LABORATORIES OF ADVANCED MICROTECHNOLOGIES AND NANOTECHNOLOGIES Interferometer with full in-line compensation of the fluctuations of refractive index Interferometric measurement techniques for nanopositioning Advanced interferometric systems for measurement in nanotechnology
http://linked.open...UplatneniVysledku	2012
http://linked.open...v/svazekPeriodika	57
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Hrabina, Jan Lazar, Josef Číp, Ondřej Čížek, Martin Šerý, Mojmír
issn	0447-6441
number of pages	4 (xsd:int)
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy

Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 67 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software