| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Nový typ detekčního systému byl navržen a odzkoušen v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Zpětně odražené elektrony (BSE) buzené dopadem pomalých elektronů zachycuje nad vzorkem mezikruhový detektor tvořený osmi soustřednými kolektory prstencového tvaru uspořádanými kolem optické osy, takže je možné rozlišovat polární úhly vektorů počáteční rychlosti emitovaných elektronů. Zpětný odraz elektronů, zejména v okolí energie 1 keV a níže, zprostředkuje bohatý informační obsah obrazu, který se navíc zvýrazňuje směrem k vyšším úhlům vůči normále k povrchu. Pomalé vysokoúhlové BSE nejsou standardními detektory zachycovány. K zajištění vysokého rozlišení obrazu, vysoké sběrové účinnosti a vysokého zesílení detektoru na nízkých energiích byl využit princip katodové čočky. Mezi slibné aplikace patří pozorování kontrastu krystalových zrn, kontrastu mezi krystalickými a amorfními fázemi, atd. (cs)
- New type of detection system has been designed and tested in the Scanning Electron Microscope. Backscattered electrons (BSE) at low energies of electron impact are collected by an annular detector above the specimen, consisting of eight concentric ring-shaped collectors arranged around the optical axis so that polar angles of the initial velocity vectors of electrons can be distinguished. Backscattering of electrons, in particular around and below 1 keV of impact energy, provides rich information content that even enhances toward higher angles with respect to the surface normal. Slow, high-angle BSE are normally not detected with standard detectors. The cathode lens principle was used to secure high lateral resolution, high collection efficiency and large amplification of the detector at low energies. Prospective applications include the grain orientation contrast, contrast between amorphous and crystallinic phases, etc.
- New type of detection system has been designed and tested in the Scanning Electron Microscope. Backscattered electrons (BSE) at low energies of electron impact are collected by an annular detector above the specimen, consisting of eight concentric ring-shaped collectors arranged around the optical axis so that polar angles of the initial velocity vectors of electrons can be distinguished. Backscattering of electrons, in particular around and below 1 keV of impact energy, provides rich information content that even enhances toward higher angles with respect to the surface normal. Slow, high-angle BSE are normally not detected with standard detectors. The cathode lens principle was used to secure high lateral resolution, high collection efficiency and large amplification of the detector at low energies. Prospective applications include the grain orientation contrast, contrast between amorphous and crystallinic phases, etc. (en)
|
| Title
| - Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies
- Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies (en)
- Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů při nízkých energiích (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies
- Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies (en)
- Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů při nízkých energiích (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/68081731:_____/07:00082250!RIV07-AV0-68081731
|
| http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GA102/05/2327), P(GA202/04/0281), Z(AV0Z20650511)
|
| http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68081731:_____/07:00082250
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - angular distribution of backscattered electrons; scanning electron microscopy; low energy electron microscopy; cathode lens principle; multichannel detection of electrons; crystallinic contrast (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...odStatuVydavatele
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| |
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Konvalina, Ivo
- Müllerová, Ilona
- Frank, Luděk
|
| http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
| issn
| |
| number of pages
| |
| is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)