| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - The methodology describes the techniques and methods of analysis for the characterization of passivation and antireflection layers in terms of optical, electronic and quantitative properties. The quality of these layers is closely related to the behavior of a base substrate, therefore the methodology describes the techniques for investigation of optical properties of the structure (Elipsometry, Opt. reflectometry), the characterization of the substrate, with comparison of its behavior and consequent determination of passivation properties of applied layer (MWPCD, QSSPC) and also the determination of quantive properties of the structure (FTIR). (en)
- Postupy analýz pro charakterizaci pasivačních a antireflexních vrstev z hlediska optických, elektronických a kvantitatívných vlastností. Kvalita těchto vrstev úzce souvisí s chováním základního substrátu, proto jsou v metodice popsány techniky založené na studiu optických parametrů struktury i jako celku (Elipsometrie, opt. reflektometrie), charakterizaci substrátu s následným porovnáváním jeho chování pro padné stanovení pasivačních vlastností na povrchu substrátu aplikované pasivační vrstvy (MWPCD, QSSPC) a v neposledním řadě kvantitatívni vyhodnocení (FTIR).
- Postupy analýz pro charakterizaci pasivačních a antireflexních vrstev z hlediska optických, elektronických a kvantitatívných vlastností. Kvalita těchto vrstev úzce souvisí s chováním základního substrátu, proto jsou v metodice popsány techniky založené na studiu optických parametrů struktury i jako celku (Elipsometrie, opt. reflektometrie), charakterizaci substrátu s následným porovnáváním jeho chování pro padné stanovení pasivačních vlastností na povrchu substrátu aplikované pasivační vrstvy (MWPCD, QSSPC) a v neposledním řadě kvantitatívni vyhodnocení (FTIR). (cs)
|
| Title
| - Evaluation and determination of the functional properties of dielectric antireflection and passivation layers (en)
- Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev
- Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Evaluation and determination of the functional properties of dielectric antireflection and passivation layers (en)
- Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev
- Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev (cs)
|
| skos:notation
| - CM-2013-619
- RIV/49610040:_____/13:*0000116!RIV14-MPO-49610040
|
| http://linked.open...avai/predkladatel
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...certifikacniOrgan
| - Solartec s.r.o., Televizní 2618, Rožnov pod Radhoštěm 756 61
|
| http://linked.open.../datumCertifikace
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...onomickeParametry
| - Metodika přispívá k významnému zlepšení kontrolovatelnosti procesů depozice tenkých dielektrických vrstev na povrch křemíkových substrátů, a tím i ke zvýšení elektrické a vzhledové kvality solárních článků. Využití metodiky u realizátora přispěje ke kvalitnímu zhotovení zákaznických solárních článků a FV modulů.
|
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/49610040:_____/13:*0000116
|
| http://linked.open...terniIdentifikace
| |
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - methodology; dielectric layers; substratrate preparation; antireflection properties; optical characterisation; elipsometry; honogeneity; optical reflectometry; passivation properties; effective minority; carrier life time; FTIR spectra (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...echnickeParametry
| - Metodika vychází z meřících metod pro charatkerizaci tenkých dielektrických a pasivačních vrstev, které jsou běžnou součástí pro výzkum ve fotovoltaickém (i v polovodičovém) průmyslu. Její aplikace usnadňuje optimalizaci výrobních procesů a hlavně napomáhá k vyšetřování fundamentálích jevů pro zvýšení účinnosti křemíkových solárních článků. Výsledek slouží k vlastnímu využití a byla podepsána Smlouva o využití výsledků výzkumu a vývoje 2012/FR-TI1/619, s MPO ze dne 28.12.2012. Kontaktní osoba: Ing. Renáta Zetková, tel: 601375825, email: renata.zetkova@solartec.cz
|
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Bařinka, Radim
- Wostrý, Petr
- Lukašík, Pavel
- Pitrun, Jiří
|
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)