About: Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	The paper is about Test Pattern Overlapping. The paper is about Test Pattern Overlapping. (en) Článek se zabývá testováním pomocí překrývání vzorků. (cs)
Title	Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Překrývání testovacích vzorků - Slibná kompresní metoda pro úzký mechanismus testovacího přístupu obvodu na čipu (cs) Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits (en)
skos:prefLabel	Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Překrývání testovacích vzorků - Slibná kompresní metoda pro úzký mechanismus testovacího přístupu obvodu na čipu (cs) Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits (en)
skos:notation	RIV/46747885:24220/08:#0001187!RIV09-AV0-24220___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(1QS108040510)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	1
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2009
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Jeníček, J. Novák, Ondřej
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Technická univerzita v Liberci / Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	399654
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/46747885:24220/08:#0001187
http://linked.open...riv/jazykVysledku	eng - angličtina
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Test Pattern Compression (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Test Pattern Compression
http://linked.open...odStatuVydavatele	UA - Ukrajina
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[86268F22F70C]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Radioelectronics & Informatics
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JC
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Technology for improving the testability of modern digital circuits
http://linked.open...UplatneniVysledku	2008
http://linked.open...v/svazekPeriodika	2008
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Jeníček, J. Novák, O.
issn	1563-0064
number of pages	8 (xsd:int)
http://localhost/t...ganizacniJednotka	24220
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 41 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software