Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Calibration and correction methods for the Vector Network Analyzer (VNA) are based on the fundamental assumption of the constant error model. Unfortunately, this assumption is notsatisfied well for planar calibration standards fabricated by etching technology on soft substrates. An evaluation of the error model is affected expecially by variations in the manufacturing process and also by the reproducibility of an assembly. In this paper, we propose error minimizatin by selecting the best combination of available calibration standards based on time domain reflection (TDR) measurement, which can also be obtained by the fourier transformation from the measured S-parameters. The proposed method was verified experimentally using short, open, load and thru (SOLT) standards fabricated on an FR4 laminate substrate which achieves the essential reduction of the measurement error in the frequency range up to 15 GHz.
- Calibration and correction methods for the Vector Network Analyzer (VNA) are based on the fundamental assumption of the constant error model. Unfortunately, this assumption is notsatisfied well for planar calibration standards fabricated by etching technology on soft substrates. An evaluation of the error model is affected expecially by variations in the manufacturing process and also by the reproducibility of an assembly. In this paper, we propose error minimizatin by selecting the best combination of available calibration standards based on time domain reflection (TDR) measurement, which can also be obtained by the fourier transformation from the measured S-parameters. The proposed method was verified experimentally using short, open, load and thru (SOLT) standards fabricated on an FR4 laminate substrate which achieves the essential reduction of the measurement error in the frequency range up to 15 GHz. (en)
- Kalibrační a korekční metody pro vektorový analyzátor (VNA) jsou založeny na základním přiřazení konstantního chybového dvoubranu. Bohužel takovéto přiřazení není postačující pro kalibrační standardy vyrobené leptací technologií na měkkých substrátech. Správné určení chybového dvoubranu je zvláště ovlivněno nepřesností výrobního procesu a také reprodukovatelností montáže. V tomto článku prezentujeme minimalizaci chyb použitím výběru nejlepší kombinace dostupných kalibračních standardů. Tento výběr je založen na reflektometrickém měření v časové oblasti (TDR), které může být také vypočteno fourierovou transformací z naměřených S-parametrů. Uvedená metoda byla experimentálně ověřena s použitím SOLT sady kalibračních standardů (zkrat, otevřený konec, přizpůsobená koncovka, průchozí vedení) vyrobených na substrátu FR4 a poskytovala podstatnou redukci chyby měření ve frekvenčním pásmu do 15GHz. (cs)
|
Title
| - Improved Evaluatin of Planar Calibration Standards Using the TDR Preselection Method
- Improved Evaluatin of Planar Calibration Standards Using the TDR Preselection Method (en)
- Zdokonalené hodnocení planárních kalibračních standardů metodou TDR preselekce (cs)
|
skos:prefLabel
| - Improved Evaluatin of Planar Calibration Standards Using the TDR Preselection Method
- Improved Evaluatin of Planar Calibration Standards Using the TDR Preselection Method (en)
- Zdokonalené hodnocení planárních kalibračních standardů metodou TDR preselekce (cs)
|
skos:notation
| - RIV/68407700:21230/07:03141145!RIV08-GA0-21230___
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GA102/04/1079), P(GD102/03/H086), Z(MSM6840770015)
|
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68407700:21230/07:03141145
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - calibration standards; equivalent circuits; error correction; scattering parameters; vector network analyzer (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...odStatuVydavatele
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
issn
| |
number of pages
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |