This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/statVydaniPatentuVzoru/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n12http://localhost/temp/predkladatel/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/uzemniOchranaPatentu/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/podDruhVysledku/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiPatentuVzoru/
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/licencniPoplatek/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216224%3A14310%2F14%3A00073312%21RIV15-TA0-14310___/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n23http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n5http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216224%3A14310%2F14%3A00073312%21RIV15-TA0-14310___
rdf:type
n13:Vysledek skos:Concept
rdfs:seeAlso
http://spisy.upv.cz/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0027/uv027013.pdf
dcterms:description
Technické řešení se týká zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI optickou metodou ve VIS/NIR oblasti s přesností cca 30 nm v rozsahu 1-10 mikrometrů; zahrnuje zdroj záření, optická vlákna, skener, spektrometr, řídící elektroniku a počítač. Technical solution targets measurements of thickness of SOI layered semiconductor structures through optical means in VIS/NIR range with precision of 30 nm in 1-10 micron range; it comprises a light source, optical fibers, scanner, spectrometer, control electronics and computer Technické řešení se týká zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI optickou metodou ve VIS/NIR oblasti s přesností cca 30 nm v rozsahu 1-10 mikrometrů; zahrnuje zdroj záření, optická vlákna, skener, spektrometr, řídící elektroniku a počítač.
dcterms:title
Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI Apparatus to measure thickness of SOI semiconductor layered structures Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI
skos:prefLabel
Apparatus to measure thickness of SOI semiconductor layered structures Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI Zařízení pro měření tloušťky polovodičových vrstevnatých struktur SOI
skos:notation
RIV/00216224:14310/14:00073312!RIV15-TA0-14310___
n3:aktivita
n20:P
n3:aktivity
P(TA01010078)
n3:cisloPatentuVzoru
27013
n3:datumUdeleniPatentuVzoru
2014-06-10+02:00
n3:dodaniDat
n5:2015
n3:domaciTvurceVysledku
n4:1834282 n4:8635390
n3:druhVysledku
n18:F%2FU
n3:duvernostUdaju
n23:S
n3:entitaPredkladatele
n10:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
56963
n3:idVysledku
RIV/00216224:14310/14:00073312
n3:jazykVysledku
n14:cze
n3:klicovaSlova
thin layer; mapping; spectroscopy
n3:klicoveSlovo
n8:spectroscopy n8:mapping n8:thin%20layer
n3:kontrolniKodProRIV
[FEA7CC612510]
n3:licencniPoplatek
n16:Z
n3:mistoVydaniPatentuVzoru
Prague
n3:nazevVydavatelePatentuVzoru
Úřad průmyslového vlastnictví
n3:obor
n22:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
2
n3:pocetTvurcuVysledku
2
n3:projekt
n9:TA01010078
n3:rokUplatneniVysledku
n5:2014
n3:statVydaniPatentuVzoru
n19:CZ
n3:tvurceVysledku
Münz, Filip Humlíček, Josef
n3:uzemniOchranaPatentu
n17:E
n3:vlastnik
n10:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n15:P
n3:vyuzitiPatentuVzoru
n21:B
n12:organizacniJednotka
14310