"Mo\u017Enosti detekce pad\u011Blk\u016F elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek"@en . . "9-10" . . "Mo\u017Enosti detekce pad\u011Blk\u016F elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek"@cs . . . "2"^^ . "28140" . "Mo\u017Enosti detekce pad\u011Blk\u016F elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek"@cs . "Mo\u017Enosti detekce pad\u011Blk\u016F elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek"@en . "Mo\u017Enosti detekce pad\u011Blk\u016F elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek" . "[5CD25F08AE70]" . "Metody testov\u00E1n\u00ED p\u016Fvodnosti elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek m\u016F\u017Eeme rozd\u011Blit na destruktivn\u00ED a nedestruktivn\u00ED. Destruktivn\u00ED metody vy\u017Eaduj\u00ED speci\u00E1ln\u00ED za\u0159\u00EDzen\u00ED, nap\u0159\u00EDklad pro otev\u0159en\u00ED pouzdra sou\u010D\u00E1stek, aby bylo mo\u017En\u00E9 zjistit, zda obvodov\u00FD syst\u00E9m sou\u010D\u00E1stky sv\u00FDm p\u016Fvodem a zam\u011B\u0159en\u00EDm odpov\u00EDd\u00E1 ozna\u010Den\u00ED pouzdra sou\u010D\u00E1stky. Nedestruktivn\u00ED metody mohou zahrnovat n\u00E1kladn\u00E1 za\u0159\u00EDzen\u00ED pro anal\u00FDzu, jako jsou speci\u00E1ln\u00ED rentgeny, ultrazvukov\u00E9 mikroskopy a dal\u0161\u00ED. Pro v\u011Bt\u0161inu t\u011Bchto metod je nezbytn\u00FD referen\u010Dn\u00ED vzorek origin\u00E1ln\u00ED sou\u010D\u00E1stky, aby bylo mo\u017En\u00E9 zji\u0161\u0165ovat odli\u0161nosti porovn\u00E1n\u00EDm. Pro p\u0159edb\u011B\u017Enou identifikaci podez\u0159el\u00FDch sou\u010D\u00E1st\u00ED v\u0161ak mnohdy posta\u010D\u00ED i jednodu\u0161\u0161\u00ED a cenov\u011B dostupn\u011Bj\u0161\u00ED metody. Mezi takov\u00E9 metody pat\u0159\u00ED anal\u00FDza popisu sou\u010D\u00E1sti v\u010Detn\u011B loga v\u00FDrobce, kterou lze prov\u00E1d\u011Bt vizu\u00E1ln\u011B nebo s pomoc\u00ED jednodu\u0161\u0161\u00EDch optick\u00FDch pom\u016Fcek. D\u00E1le je to anal\u00FDza pr\u016Fvodn\u00ED dokumentace, rozm\u011Brov\u00FDch a tvarov\u00FDch parametr\u016F pouzdra, povrchov\u00E9 struktury pouzdra i v\u00FDvod\u016F apod. Kombinace vzhledov\u00E9 anal\u00FDzy s dostupnou metodou anal\u00FDzy elektrick\u00FDch parametr\u016F, jakou m\u016F\u017Ee b\u00FDt i metoda porovn\u00E1n\u00ED voltamp\u00E9rov\u00FDch charakteristik, p\u0159edstavuje solidn\u00ED n\u00E1stroj pou\u017Eiteln\u00FD v \u0161ir\u0161\u00EDm m\u011B\u0159\u00EDtku i mimo specializovan\u00E1 pracovi\u0161t\u011B." . . . . "Mo\u017Enosti detekce pad\u011Blk\u016F elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek" . . . "1804-4891" . "RIV/70883521:28140/11:43866658!RIV12-MSM-28140___" . "Neumann, Petr" . "1"^^ . . . . "DPS Plo\u0161n\u00E9 spoje od A do Z" . "RIV/70883521:28140/11:43866658" . . . "1"^^ . "2011" . "Metody testov\u00E1n\u00ED p\u016Fvodnosti elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek m\u016F\u017Eeme rozd\u011Blit na destruktivn\u00ED a nedestruktivn\u00ED. Destruktivn\u00ED metody vy\u017Eaduj\u00ED speci\u00E1ln\u00ED za\u0159\u00EDzen\u00ED, nap\u0159\u00EDklad pro otev\u0159en\u00ED pouzdra sou\u010D\u00E1stek, aby bylo mo\u017En\u00E9 zjistit, zda obvodov\u00FD syst\u00E9m sou\u010D\u00E1stky sv\u00FDm p\u016Fvodem a zam\u011B\u0159en\u00EDm odpov\u00EDd\u00E1 ozna\u010Den\u00ED pouzdra sou\u010D\u00E1stky. Nedestruktivn\u00ED metody mohou zahrnovat n\u00E1kladn\u00E1 za\u0159\u00EDzen\u00ED pro anal\u00FDzu, jako jsou speci\u00E1ln\u00ED rentgeny, ultrazvukov\u00E9 mikroskopy a dal\u0161\u00ED. Pro v\u011Bt\u0161inu t\u011Bchto metod je nezbytn\u00FD referen\u010Dn\u00ED vzorek origin\u00E1ln\u00ED sou\u010D\u00E1stky, aby bylo mo\u017En\u00E9 zji\u0161\u0165ovat odli\u0161nosti porovn\u00E1n\u00EDm. Pro p\u0159edb\u011B\u017Enou identifikaci podez\u0159el\u00FDch sou\u010D\u00E1st\u00ED v\u0161ak mnohdy posta\u010D\u00ED i jednodu\u0161\u0161\u00ED a cenov\u011B dostupn\u011Bj\u0161\u00ED metody. Mezi takov\u00E9 metody pat\u0159\u00ED anal\u00FDza popisu sou\u010D\u00E1sti v\u010Detn\u011B loga v\u00FDrobce, kterou lze prov\u00E1d\u011Bt vizu\u00E1ln\u011B nebo s pomoc\u00ED jednodu\u0161\u0161\u00EDch optick\u00FDch pom\u016Fcek. D\u00E1le je to anal\u00FDza pr\u016Fvodn\u00ED dokumentace, rozm\u011Brov\u00FDch a tvarov\u00FDch parametr\u016F pouzdra, povrchov\u00E9 struktury pouzdra i v\u00FDvod\u016F apod. Kombinace vzhledov\u00E9 anal\u00FDzy s dostupnou metodou anal\u00FDzy elektrick\u00FDch parametr\u016F, jakou m\u016F\u017Ee b\u00FDt i metoda porovn\u00E1n\u00ED voltamp\u00E9rov\u00FDch charakteristik, p\u0159edstavuje solidn\u00ED n\u00E1stroj pou\u017Eiteln\u00FD v \u0161ir\u0161\u00EDm m\u011B\u0159\u00EDtku i mimo specializovan\u00E1 pracovi\u0161t\u011B."@cs . "P(ED2.1.00/03.0089), Z(MSM7088352102)" . . . "Metody testov\u00E1n\u00ED p\u016Fvodnosti elektronick\u00FDch sou\u010D\u00E1stek m\u016F\u017Eeme rozd\u011Blit na destruktivn\u00ED a nedestruktivn\u00ED. Destruktivn\u00ED metody vy\u017Eaduj\u00ED speci\u00E1ln\u00ED za\u0159\u00EDzen\u00ED, nap\u0159\u00EDklad pro otev\u0159en\u00ED pouzdra sou\u010D\u00E1stek, aby bylo mo\u017En\u00E9 zjistit, zda obvodov\u00FD syst\u00E9m sou\u010D\u00E1stky sv\u00FDm p\u016Fvodem a zam\u011B\u0159en\u00EDm odpov\u00EDd\u00E1 ozna\u010Den\u00ED pouzdra sou\u010D\u00E1stky. Nedestruktivn\u00ED metody mohou zahrnovat n\u00E1kladn\u00E1 za\u0159\u00EDzen\u00ED pro anal\u00FDzu, jako jsou speci\u00E1ln\u00ED rentgeny, ultrazvukov\u00E9 mikroskopy a dal\u0161\u00ED. Pro v\u011Bt\u0161inu t\u011Bchto metod je nezbytn\u00FD referen\u010Dn\u00ED vzorek origin\u00E1ln\u00ED sou\u010D\u00E1stky, aby bylo mo\u017En\u00E9 zji\u0161\u0165ovat odli\u0161nosti porovn\u00E1n\u00EDm. Pro p\u0159edb\u011B\u017Enou identifikaci podez\u0159el\u00FDch sou\u010D\u00E1st\u00ED v\u0161ak mnohdy posta\u010D\u00ED i jednodu\u0161\u0161\u00ED a cenov\u011B dostupn\u011Bj\u0161\u00ED metody. Mezi takov\u00E9 metody pat\u0159\u00ED anal\u00FDza popisu sou\u010D\u00E1sti v\u010Detn\u011B loga v\u00FDrobce, kterou lze prov\u00E1d\u011Bt vizu\u00E1ln\u011B nebo s pomoc\u00ED jednodu\u0161\u0161\u00EDch optick\u00FDch pom\u016Fcek. D\u00E1le je to anal\u00FDza pr\u016Fvodn\u00ED dokumentace, rozm\u011Brov\u00FDch a tvarov\u00FDch parametr\u016F pouzdra, povrchov\u00E9 struktury pouzdra i v\u00FDvod\u016F apod. Kombinace vzhledov\u00E9 anal\u00FDzy s dostupnou metodou anal\u00FDzy elektrick\u00FDch parametr\u016F, jakou m\u016F\u017Ee b\u00FDt i metoda porovn\u00E1n\u00ED voltamp\u00E9rov\u00FDch charakteristik, p\u0159edstavuje solidn\u00ED n\u00E1stroj pou\u017Eiteln\u00FD v \u0161ir\u0161\u00EDm m\u011B\u0159\u00EDtku i mimo specializovan\u00E1 pracovi\u0161t\u011B."@en . . . . "pad\u011Blan\u00E1 sou\u010D\u00E1stka, detektor pad\u011Blk\u016F, V-I charakteristika, re\u017Eim skenov\u00E1n\u00ED, otisk sou\u010D\u00E1stky"@en . "213915" . . "CZ - \u010Cesk\u00E1 republika" .