"Mapov\u00E1n\u00ED polovodi\u010Dov\u00FDch struktur s sub-mikronov\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm pomoc\u00ED Ramanova rozptylu a fotoluminiscence" . "Ramanova mikrospektroskopie se v posledn\u00ED dob\u011B st\u00E1v\u00E1 jednou z podstatn\u00FDch charakteriza\u010Dn\u00EDch metod v polovodi\u010Dov\u00E9m pr\u016Fmyslu. Vyu\u017E\u00EDv\u00E1 se zejm\u00E9na ke stanoven\u00ED lok\u00E1ln\u00EDho intern\u00EDho stresu v materi\u00E1lu, p\u0159\u00EDpadn\u011B k identifikaci materi\u00E1lu nebo jeho struktury \u010Di krystalografick\u00E9 orientace. P\u0159edn\u00E1\u0161ka bude v\u011Bnov\u00E1na zejm\u00E9na mapov\u00E1n\u00ED vlastnost\u00ED polovodi\u010Dov\u00FDch mikrostruktur pomoc\u00ED Ramanovy spektroskopie. Z\u00EDskan\u00E9 v\u00FDsledky srovn\u00E1v\u00E1me s lok\u00E1ln\u00EDmi vlastnostmi vzorku (topografie, lok\u00E1ln\u00ED vodivost \u010Di v\u00FDstupn\u00ED pr\u00E1ce materi\u00E1lu) zm\u011B\u0159en\u00FDmi pomoc\u00ED mikroskopu atom\u00E1rn\u00EDch sil (AFM). Kombinace zm\u00EDn\u011Bn\u00FDch technik umo\u017E\u0148uje z pohledu Ramanovy mikrospektroskopie zobrazen\u00ED m\u011B\u0159en\u00E9ho vzorku a jeho vlastnost\u00ED s vysok\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm. Naopak, z pohledu AFM je p\u0159\u00EDnos Ramanovy mikroskopie d\u00E1n zejm\u00E9na chemick\u00FDm kontrastem, kter\u00FD nen\u00ED u tohoto druhu mikroskopu p\u0159\u00EDmo dosa\u017Eiteln\u00FD."@cs . . "324672" . "5"^^ . "Vetushka, Aliaksi" . . "5"^^ . . . "P(KAN400100701), P(LC06040), P(LC510), Z(AV0Z10100521)" . . . . . . "Raman spectroscopy; silicon thin films; GaN"@en . . "Mapping of semiconducting structures with sub-micron resolution by Raman and photoluminiscence spectroscopy"@en . . . "Ledinsk\u00FD, Martin" . "Mapov\u00E1n\u00ED polovodi\u010Dov\u00FDch struktur s sub-mikronov\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm pomoc\u00ED Ramanova rozptylu a fotoluminiscence" . . . "RIV/68378271:_____/09:00339843" . "Mapping of semiconducting structures with sub-micron resolution by Raman and photoluminiscence spectroscopy"@en . . "Raman spectroscopy is used for mapping of objects in micrometer scale. Combining of this method with results from AFM seems to be prommising characterization tool."@en . "Fejfar, Anton\u00EDn" . "Ko\u010Dka, Jan" . . "[E6D9A3F0C9C2]" . "Mapov\u00E1n\u00ED polovodi\u010Dov\u00FDch struktur s sub-mikronov\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm pomoc\u00ED Ramanova rozptylu a fotoluminiscence"@cs . . . "Stuchl\u00EDk, Ji\u0159\u00ED" . "Mapov\u00E1n\u00ED polovodi\u010Dov\u00FDch struktur s sub-mikronov\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm pomoc\u00ED Ramanova rozptylu a fotoluminiscence"@cs . . . . "Ramanova mikrospektroskopie se v posledn\u00ED dob\u011B st\u00E1v\u00E1 jednou z podstatn\u00FDch charakteriza\u010Dn\u00EDch metod v polovodi\u010Dov\u00E9m pr\u016Fmyslu. Vyu\u017E\u00EDv\u00E1 se zejm\u00E9na ke stanoven\u00ED lok\u00E1ln\u00EDho intern\u00EDho stresu v materi\u00E1lu, p\u0159\u00EDpadn\u011B k identifikaci materi\u00E1lu nebo jeho struktury \u010Di krystalografick\u00E9 orientace. P\u0159edn\u00E1\u0161ka bude v\u011Bnov\u00E1na zejm\u00E9na mapov\u00E1n\u00ED vlastnost\u00ED polovodi\u010Dov\u00FDch mikrostruktur pomoc\u00ED Ramanovy spektroskopie. Z\u00EDskan\u00E9 v\u00FDsledky srovn\u00E1v\u00E1me s lok\u00E1ln\u00EDmi vlastnostmi vzorku (topografie, lok\u00E1ln\u00ED vodivost \u010Di v\u00FDstupn\u00ED pr\u00E1ce materi\u00E1lu) zm\u011B\u0159en\u00FDmi pomoc\u00ED mikroskopu atom\u00E1rn\u00EDch sil (AFM). Kombinace zm\u00EDn\u011Bn\u00FDch technik umo\u017E\u0148uje z pohledu Ramanovy mikrospektroskopie zobrazen\u00ED m\u011B\u0159en\u00E9ho vzorku a jeho vlastnost\u00ED s vysok\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm. Naopak, z pohledu AFM je p\u0159\u00EDnos Ramanovy mikroskopie d\u00E1n zejm\u00E9na chemick\u00FDm kontrastem, kter\u00FD nen\u00ED u tohoto druhu mikroskopu p\u0159\u00EDmo dosa\u017Eiteln\u00FD." . . . "RIV/68378271:_____/09:00339843!RIV10-MSM-68378271" .