. "http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IAA2065502"^^ . "V r\u00E1mci grantu 16507 byla vyvinuta metodika studia povrch\u016F rastrovac\u00ED elektronovou mikroskopi\u00ED s velmi pomal\u00FDmi elektrony s vysok\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm (SVLEEM). Projekt by m\u011Bl pokra\u010Dovat dal\u0161\u00EDm v\u00FDvojem za\u0159\u00EDzen\u00ED s c\u00EDlem dos\u00E1hnout toho nejzaj\u00EDmav\u011Bj\u0161\u00EDho, co\u017E je nov\u00E1 oblast aplikac\u00ED a srovn\u00E1n\u00ED obrazov\u00FDch kontrast\u016F s ji\u017E zaveden\u00FDmi komplement\u00E1rn\u00EDmi metodami pracuj\u00EDc\u00EDmi na podobn\u00E9 velmi n\u00EDzk\u00E9 energii (10 eV). Jsou to zejm\u00E9na p\u0159\u00EDmo zobrazuj\u00EDc\u00ED nizkonap\u011B\u0165ov\u00E1 elektronov\u00E1 mikroskopie (LEEM), fotoemisn\u00ED elektronov\u00E1 mikroskopie (PEEM) a rastrovac\u00ED tunelov\u00E1 mikroskopie (STM). Experiment\u00E1ln\u00EDmi metodami s aplikac\u00ED SVLEEM, kter\u00E9 dosud nebyly realizov\u00E1ny, jsou mikroskopie nepokoven\u00FDch nevodiv\u00FDch vzork\u016F s nulov\u00FDm nab\u00EDjen\u00EDm na optim\u00E1ln\u00ED velmi n\u00EDzk\u00E9 energii s vysok\u00FDm rozli\u0161en\u00EDm, co\u017E je zaj\u00EDmav\u00E9 zejm\u00E9na v biologii, geologii, zobrazen\u00ED skel, keramik atd., a z\u00EDsk\u00E1n\u00ED obrazu v temn\u00E9m a sv\u011Btl\u00E9m poli krystalick\u00FDch vzork\u016F, co\u017E umo\u017E\u0148uje dynamick\u00E9 studium povrchov\u00E9 struktury. Srovn\u00E1n\u00ED obrazov\u00FDch kontrast\u016F z\u00EDskan\u00FDch SVLEEM s" . "0"^^ . . . . . "1"^^ . . . "Dal\u0161\u00ED rozvoj mikroskopie a difrakce s velmi pomal\u00FDmi elektrony v rastrovac\u00EDm elektronov\u00E9m mikroskopu" . "0"^^ . . . "5"^^ . . . . "5"^^ . "Further development of microscopy and diffraction by using very lo\u0161 electrons in the scanning electron microscope"@en . . . "IAA2065502" . .