This HTML5 document contains 46 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n16http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n3http://localhost/temp/predkladatel/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n5https://schema.org/
shttp://schema.org/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F70883521%3A28140%2F14%3A43871465%21RIV15-MSM-28140___/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n13http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F70883521%3A28140%2F14%3A43871465%21RIV15-MSM-28140___
rdf:type
skos:Concept n10:Vysledek
dcterms:description
This paper deals with scanning microwave microscopy and its application on semiconductor structures. Agilent 5420 SPM with vector analyzer Agilent PNA N5230A was used. Tato práce se zabývá měřením elektromagnetických vlastností vzorků pomocí metody vycházejících z mikroskopie atomárních sil (AFM) - skenovací mikrovlnnou mikroskopií (SMM). Největší důraz je kladen na studium polovodičových struktur s využitím jak kontaktního módu mikroskopie atomárních sil , tak i bezkontaktního mikrovlnného módu. Při měření je použit mikroskopický systém Agilent 5420 SPM v kombinaci s vektorovým analyzátorem Agilent PNA N5230A. Tato práce se zabývá měřením elektromagnetických vlastností vzorků pomocí metody vycházejících z mikroskopie atomárních sil (AFM) - skenovací mikrovlnnou mikroskopií (SMM). Největší důraz je kladen na studium polovodičových struktur s využitím jak kontaktního módu mikroskopie atomárních sil , tak i bezkontaktního mikrovlnného módu. Při měření je použit mikroskopický systém Agilent 5420 SPM v kombinaci s vektorovým analyzátorem Agilent PNA N5230A.
dcterms:title
Scanning microwave microscopy MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE
skos:prefLabel
Scanning microwave microscopy MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE
skos:notation
RIV/70883521:28140/14:43871465!RIV15-MSM-28140___
n7:aktivita
n15:P
n7:aktivity
P(ED2.1.00/03.0089)
n7:dodaniDat
n13:2015
n7:domaciTvurceVysledku
n11:9605363 n11:2065614 n11:5931177 n11:1318896
n7:druhVysledku
n8:D
n7:duvernostUdaju
n17:S
n7:entitaPredkladatele
n9:predkladatel
n7:idSjednocenehoVysledku
29374
n7:idVysledku
RIV/70883521:28140/14:43871465
n7:jazykVysledku
n21:cze
n7:klicovaSlova
Scanning microwave microscopy
n7:klicoveSlovo
n19:Scanning%20microwave%20microscopy
n7:kontrolniKodProRIV
[B323B9653FE3]
n7:mistoKonaniAkce
Rožnov pod Radhoštěm
n7:mistoVydani
Rožnov pod Radhoštěm
n7:nazevZdroje
Perspektivy elektroniky 2014
n7:obor
n18:JA
n7:pocetDomacichTvurcuVysledku
4
n7:pocetTvurcuVysledku
4
n7:projekt
n12:ED2.1.00%2F03.0089
n7:rokUplatneniVysledku
n13:2014
n7:tvurceVysledku
Křesálek, Vojtěch Martínek, Tomáš Kudělka, Josef Navrátil, Milan
n7:typAkce
n14:CST
n7:zahajeniAkce
2014-04-15+02:00
s:numberOfPages
10
n16:hasPublisher
SŠIEŘ Rožnov pod Radhoštěm
n5:isbn
978-80-260-5776-5
n3:organizacniJednotka
28140