This HTML5 document contains 42 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n11http://localhost/temp/predkladatel/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/podDruhVysledku/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/kategorie/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n12http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68407700%3A21260%2F09%3A00167640%21RIV10-MPO-21260___/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68407700%3A21260%2F09%3A00167640%21RIV10-MPO-21260___
rdf:type
n4:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Systém sestává z vakuových aparatur umožňujících napařování a naprašování kovových a nitridových tenkých vrstev a povlaků a dále z optického interferenčního mikroskopu, z přístroje pro vrypový test a optického mikroskopu s digitální kamerou. Systém sestává z vakuových aparatur umožňujících napařování a naprašování kovových a nitridových tenkých vrstev a povlaků a dále z optického interferenčního mikroskopu, z přístroje pro vrypový test a optického mikroskopu s digitální kamerou. The system consists of vacuum deposition facilities enabling evaporation and sputtering of metal and nitrides thin films and coatings. Further components are the optical interference microscope, a device for scratch test and optical microscope with digital image record.
dcterms:title
Systém pro depozici tenkých vrstev a povlaků a měření jejich parametrů Systém pro depozici tenkých vrstev a povlaků a měření jejich parametrů System for thin films and coatings deposition and measurement of their parameters
skos:prefLabel
System for thin films and coatings deposition and measurement of their parameters Systém pro depozici tenkých vrstev a povlaků a měření jejich parametrů Systém pro depozici tenkých vrstev a povlaků a měření jejich parametrů
skos:notation
RIV/68407700:21260/09:00167640!RIV10-MPO-21260___
n3:aktivita
n17:P
n3:aktivity
P(2A-1TP1/031)
n3:dodaniDat
n12:2010
n3:domaciTvurceVysledku
n18:4829514
n3:druhVysledku
n16:G%2FB
n3:duvernostUdaju
n6:S
n3:ekonomickeParametry
není určeno ke komerčnímu využití
n3:entitaPredkladatele
n5:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
345206
n3:idVysledku
RIV/68407700:21260/09:00167640
n3:interniIdentifikace
2/2009
n3:jazykVysledku
n13:cze
n3:kategorie
n10:A
n3:klicovaSlova
evaporation; sputtering; scratch test
n3:klicoveSlovo
n7:evaporation n7:scratch%20test n7:sputtering
n3:kontrolniKodProRIV
[26AA323AA57A]
n3:lokalizaceVysledku
Ústav fyziky 12102 Fakulty strojní ČVUT
n3:obor
n19:JB
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:projekt
n15:2A-1TP1%2F031
n3:rokUplatneniVysledku
n12:2009
n3:technickeParametry
tloušťka vrstev apovlaků v rozmezí 0,5 - 10 mikrometrů
n3:tvurceVysledku
Novák, Rudolf Vítů, Tomáš
n3:vlastnik
n5:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n14:N
n11:organizacniJednotka
21260