This HTML5 document contains 42 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n9http://localhost/temp/predkladatel/
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/podDruhVysledku/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68407700%3A21230%2F08%3A03149259%21RIV09-MSM-21230___/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/kategorie/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n14http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68407700%3A21230%2F08%3A03149259%21RIV09-MSM-21230___
rdf:type
n18:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Microprocessor controlled measuring instrument for optical transparency measurement of ultra thin metallic and composite films. Optical transparency is measured at three wavelengths 529 nm, 626 nm and 850 nm. This prototype is a partial result of research project VZS|13113|ext:MSM6840770021|FIS:34-05212|21 Diagnostika materiálů, partial task : development of thin film flexible electrode for organic solar cell. Mikroprocesorem řízený měřicí přístroj pro měření bodové optické propustnosti ultra tenkých metalických a polymerních kompozitních vrstev. Optická propustnost je měřena na vlnových délkách 529 nm, 626 nm a 850 nm s rozlišením 0,1% v celém rozsahu. Funkční vzorek vznikl v rámci řešení výzkumného záměru VZS|13113|ext:MSM6840770021|FIS:34-05212|21 Diagnostika materiálů, vývoje tenkovrstvové ohebné elektrody organického solárního článku. Mikroprocesorem řízený měřicí přístroj pro měření bodové optické propustnosti ultra tenkých metalických a polymerních kompozitních vrstev. Optická propustnost je měřena na vlnových délkách 529 nm, 626 nm a 850 nm s rozlišením 0,1% v celém rozsahu. Funkční vzorek vznikl v rámci řešení výzkumného záměru VZS|13113|ext:MSM6840770021|FIS:34-05212|21 Diagnostika materiálů, vývoje tenkovrstvové ohebné elektrody organického solárního článku.
dcterms:title
Měřič optické transparence tenkých vrstev Thin Films Optical Transparency Meter Měřič optické transparence tenkých vrstev
skos:prefLabel
Měřič optické transparence tenkých vrstev Měřič optické transparence tenkých vrstev Thin Films Optical Transparency Meter
skos:notation
RIV/68407700:21230/08:03149259!RIV09-MSM-21230___
n3:aktivita
n11:Z
n3:aktivity
Z(MSM6840770021)
n3:dodaniDat
n14:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n19:2015773
n3:druhVysledku
n10:G%2FB
n3:duvernostUdaju
n8:S
n3:ekonomickeParametry
20000.- Kč
n3:entitaPredkladatele
n6:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
378579
n3:idVysledku
RIV/68407700:21230/08:03149259
n3:interniIdentifikace
13113/14/2008
n3:jazykVysledku
n17:cze
n3:kategorie
n16:A
n3:klicovaSlova
solar cell; thin films; transparency
n3:klicoveSlovo
n5:thin%20films n5:solar%20cell n5:transparency
n3:kontrolniKodProRIV
[79DD15E5D05F]
n3:lokalizaceVysledku
Laboratoř 153
n3:obor
n15:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
2
n3:rokUplatneniVysledku
n14:2008
n3:technickeParametry
Přístroj umožňuje bodové měření optické propustnosti vzorku na třech vlnových délkách : 569 nm, 626 nm, 850 nm s rozlišením 0,1% v celém rozsahu T (0-100 %).
n3:tvurceVysledku
Sedláček, Josef Sedláček, Radek
n3:vlastnik
n6:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n13:N
n3:zamer
n12:MSM6840770021
n9:organizacniJednotka
21230