This HTML5 document contains 44 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00322013%21RIV09-AV0-68378271/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n5http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00322013%21RIV09-AV0-68378271
rdf:type
skos:Concept n17:Vysledek
dcterms:description
Ke stanovení tloušťek tenkých vrstev navrhujeme použití více než dvou linií pro daný prvek. We consider here a possibility of using more than two intensities for a given element, in the procedure of thickness determination. We consider here a possibility of using more than two intensities for a given element, in the procedure of thickness determination.
dcterms:title
Určování tlouštěk tenkých vrstev z fotoemisních linií Overlayer thickness determination by XPS using the multiline approach Overlayer thickness determination by XPS using the multiline approach
skos:prefLabel
Overlayer thickness determination by XPS using the multiline approach Overlayer thickness determination by XPS using the multiline approach Určování tlouštěk tenkých vrstev z fotoemisních linií
skos:notation
RIV/68378271:_____/08:00322013!RIV09-AV0-68378271
n3:aktivita
n16:Z n16:P
n3:aktivity
P(GA202/06/0459), Z(AV0Z10100521)
n3:cisloPeriodika
3
n3:dodaniDat
n5:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n13:6323472
n3:druhVysledku
n4:J
n3:duvernostUdaju
n14:S
n3:entitaPredkladatele
n6:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
385637
n3:idVysledku
RIV/68378271:_____/08:00322013
n3:jazykVysledku
n18:eng
n3:klicovaSlova
computer simulations; electron-solid interactions; Monte Carlo simulations; x-ray photoelectron spectroscopy
n3:klicoveSlovo
n9:Monte%20Carlo%20simulations n9:computer%20simulations n9:electron-solid%20interactions n9:x-ray%20photoelectron%20spectroscopy
n3:kodStatuVydavatele
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
n3:kontrolniKodProRIV
[D4F62B4D918A]
n3:nazevZdroje
Surface and Interface Analysis
n3:obor
n8:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
2
n3:projekt
n10:GA202%2F06%2F0459
n3:rokUplatneniVysledku
n5:2008
n3:svazekPeriodika
41
n3:tvurceVysledku
Jablonski, A. Zemek, Josef
n3:wos
000263750400008
n3:zamer
n15:AV0Z10100521
s:issn
0142-2421
s:numberOfPages
12