This HTML5 document contains 51 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n21http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n20https://schema.org/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00079494%21RIV07-AV0-68378271/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n5http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00079494%21RIV07-AV0-68378271
rdf:type
n17:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Surface topography has great importance in specifying quality of a surface. A significant proportion of component failure starts at the surface due to either an isolated manufacturing discontinuity or gradual deterioration of the surface quality. The most important parameter describing surface integrity is surface roughness. In the manufacturing industry, surface must be within certain limits of roughness. Topografie povrchu má velký vliv na specifikaci jeho kvality. Jedna z podstatných vlastností popisujících povrch je drsnost povrchu. Kontrola parametrů drsnosti po squarování Si ingotů je hlavním předmětem příspěvku. Surface topography has great importance in specifying quality of a surface. A significant proportion of component failure starts at the surface due to either an isolated manufacturing discontinuity or gradual deterioration of the surface quality. The most important parameter describing surface integrity is surface roughness. In the manufacturing industry, surface must be within certain limits of roughness.
dcterms:title
Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine Měření drsnosti povrchu křemíkových ingotů po squarování
skos:prefLabel
Měření drsnosti povrchu křemíkových ingotů po squarování Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine
skos:notation
RIV/68378271:_____/06:00079494!RIV07-AV0-68378271
n3:strany
202;207
n3:aktivita
n12:P n12:Z
n3:aktivity
P(1M06002), Z(AV0Z10100522), Z(MSM6198959213)
n3:dodaniDat
n5:2007
n3:domaciTvurceVysledku
n4:5038413 n4:8546126 n4:1002244
n3:druhVysledku
n10:D
n3:duvernostUdaju
n18:S
n3:entitaPredkladatele
n13:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
498015
n3:idVysledku
RIV/68378271:_____/06:00079494
n3:jazykVysledku
n11:eng
n3:klicovaSlova
roughness; squaring; Talysurf
n3:klicoveSlovo
n14:roughness n14:squaring n14:Talysurf
n3:kontrolniKodProRIV
[897F87FF9AFD]
n3:mistoKonaniAkce
Rožnov pod Radhoštěm
n3:mistoVydani
Rožnov pod Radhoštěm
n3:nazevZdroje
SILICON 2006
n3:obor
n7:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
5
n3:projekt
n16:1M06002
n3:rokUplatneniVysledku
n5:2006
n3:tvurceVysledku
Hiklová, Helena Vojtěchovská, J. Schovánek, Petr Vojtěchovský, K. Havelková, Martina
n3:typAkce
n19:EUR
n3:zahajeniAkce
2006-11-07+01:00
n3:zamer
n15:AV0Z10100522 n15:MSM6198959213
s:numberOfPages
6
n21:hasPublisher
TECON Scientific
n20:isbn
80-239-7781-4