This HTML5 document contains 69 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n14http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
n15https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68378271%3A_____%2F04%3A00026669%21RIV06-AV0-68378271/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n13http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68378271%3A_____%2F04%3A00026669%21RIV06-AV0-68378271
rdf:type
skos:Concept n20:Vysledek
dcterms:description
We have found that the abruptness and symmetry on monoatomic scale is achievable with MOVPE technique as well. We are able to find only the periodicity in these structures while atomic resolution pictures give reliable thickness values. Zjistili jsme, že strmost a symetrie na atomární úrovni je také dosažitelná s technologií MOVPE. V těchto strukturách jsme schopni nalézt pouze periodicitu, zatímco obrázky s rozlišením na atomární úrovni dávají spolehlivé údaje o tlouštce. We have found that the abruptness and symmetry on monoatomic scale is achievable with MOVPE technique as well. We are able to find only the periodicity in these structures while atomic resolution pictures give reliable thickness values.
dcterms:title
Abrupt InAs/GaAs heterojunctions and very thin quantum wells grown by MOVPE Strmé InAs/GaAs heteropřechody a velmi tenké kvantové jámy vypěstované pomocí MOVPE Abrupt InAs/GaAs heterojunctions and very thin quantum wells grown by MOVPE
skos:prefLabel
Abrupt InAs/GaAs heterojunctions and very thin quantum wells grown by MOVPE Abrupt InAs/GaAs heterojunctions and very thin quantum wells grown by MOVPE Strmé InAs/GaAs heteropřechody a velmi tenké kvantové jámy vypěstované pomocí MOVPE
skos:notation
RIV/68378271:_____/04:00026669!RIV06-AV0-68378271
n3:strany
278;281
n3:aktivita
n10:Z n10:P
n3:aktivity
P(GA202/03/0413), P(GP202/02/D069), P(IAA1010318), P(KSK1010104), Z(AV0Z1010914)
n3:dodaniDat
n13:2006
n3:domaciTvurceVysledku
n6:3338878 n6:7895585 n6:4824040 n6:6156142 n6:8947732 n6:3860701 n6:6777430 n6:7369123
n3:druhVysledku
n19:D
n3:duvernostUdaju
n11:S
n3:entitaPredkladatele
n12:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
553300
n3:idVysledku
RIV/68378271:_____/04:00026669
n3:jazykVysledku
n17:eng
n3:klicovaSlova
semiconductor laser; quantum well; GaAs; InAs; XSTM; TEM; X-ray diffraction
n3:klicoveSlovo
n7:XSTM n7:TEM n7:quantum%20well n7:InAs n7:GaAs n7:X-ray%20diffraction n7:semiconductor%20laser
n3:kontrolniKodProRIV
[E47E40653E94]
n3:mistoKonaniAkce
Brno
n3:mistoVydani
Brno
n3:nazevZdroje
NANO ´04
n3:obor
n21:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
8
n3:pocetTvurcuVysledku
12
n3:projekt
n4:GA202%2F03%2F0413 n4:KSK1010104 n4:IAA1010318 n4:GP202%2F02%2FD069
n3:rokUplatneniVysledku
n13:2004
n3:tvurceVysledku
Petříček, Otto Šimeček, Tomislav Pangrác, Jiří Holý, V. Hospodková, Alice Melichar, Karel Oswald, Jiří Vávra, I. Chráska, T. Ouattara, L. Hulicius, Eduard Pacherová, Oliva
n3:typAkce
n16:EUR
n3:zahajeniAkce
2004-10-13+02:00
n3:zamer
n18:AV0Z1010914
s:numberOfPages
4
n14:hasPublisher
Vysoké učení technické v Brně
n15:isbn
80-214-2793-0