This HTML5 document contains 55 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/statVydaniPatentuVzoru/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n20http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/uzemniOchranaPatentu/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiPatentuVzoru/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/licencniPoplatek/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00423601%21RIV14-MPO-68081731/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n23http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n13http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00423601%21RIV14-MPO-68081731
rdf:type
n11:Vysledek skos:Concept
rdfs:seeAlso
http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/304/304138.pdf
dcterms:description
Způsob detekce interferenční fáze dvou interferujících laserových paprsků využívá frekvenčně modulovatelného zdroje laserového záření a nově vyvinuté vyhodnocovací jednotky. Touto kombinací je možné určit interferenční fázi ze signálu, který je snímán pouze jednoduchým fotodetektorem, s přesností v řádu nanometrů, s možností snadno určit směr pohybu měřicího zrcadla a zároveň toto vyhodnocení provádět bez nutnosti použití dalších optických prvků či požadavků na zachování polarizace svazku. Výhodou nového způsobu jsou oproti stávajícímu stavu zmenšené nároky na mechanickou přesnost konstrukce vyhodnocovací jednotky, objem a cenu elektrooptických komponent a celkovou mechanickou robustnost výsledného měřicího systému. Zařízení obsahuje dvousvazkový laserový interferometr pro měření vzdáleností, zdroj laserového záření s frekvenčně modulovanou optickou frekvencí a fotodetektor, jehož vstup laserového světla leží na výstupu dvousvazkového laserového interferometru. Řídicí vstup zdroje laserového záření s frekvenčně modulovanou optickou frekvencí je spojen s prvním řídicím výstupem generátoru modulačního signálu a druhým vstupem vyhodnocovací jednotky, jejíž první vstup je spojen s výstupem fotodetektoru. The new method for the detection of the interference phase of two interfering laser beams uses a frequency modulated source of laser radiation and en extensive computations. This combination provides the way to determine the interference phase that is sampled solely by single photodetector with nanometre precision; it also deterministically indicates the direction of the movable measurement mirror and does not pose a requirement to use additional optical components or polarizing optics. The improvement lies in reduced demands on the precision of mechanical construcstion, its overall robustness and the costs and volume of the optical components used. Způsob detekce interferenční fáze dvou interferujících laserových paprsků využívá frekvenčně modulovatelného zdroje laserového záření a nově vyvinuté vyhodnocovací jednotky. Touto kombinací je možné určit interferenční fázi ze signálu, který je snímán pouze jednoduchým fotodetektorem, s přesností v řádu nanometrů, s možností snadno určit směr pohybu měřicího zrcadla a zároveň toto vyhodnocení provádět bez nutnosti použití dalších optických prvků či požadavků na zachování polarizace svazku. Výhodou nového způsobu jsou oproti stávajícímu stavu zmenšené nároky na mechanickou přesnost konstrukce vyhodnocovací jednotky, objem a cenu elektrooptických komponent a celkovou mechanickou robustnost výsledného měřicího systému. Zařízení obsahuje dvousvazkový laserový interferometr pro měření vzdáleností, zdroj laserového záření s frekvenčně modulovanou optickou frekvencí a fotodetektor, jehož vstup laserového světla leží na výstupu dvousvazkového laserového interferometru. Řídicí vstup zdroje laserového záření s frekvenčně modulovanou optickou frekvencí je spojen s prvním řídicím výstupem generátoru modulačního signálu a druhým vstupem vyhodnocovací jednotky, jejíž první vstup je spojen s výstupem fotodetektoru.
dcterms:title
Způsob detekce interfernční fáze dvou interferujících laserových paprsků a zařízení pro provádění tohoto způsobu Způsob detekce interfernční fáze dvou interferujících laserových paprsků a zařízení pro provádění tohoto způsobu Method and apparatus for detection of interference phase of two interfering laser beams
skos:prefLabel
Method and apparatus for detection of interference phase of two interfering laser beams Způsob detekce interfernční fáze dvou interferujících laserových paprsků a zařízení pro provádění tohoto způsobu Způsob detekce interfernční fáze dvou interferujících laserových paprsků a zařízení pro provádění tohoto způsobu
skos:notation
RIV/68081731:_____/13:00423601!RIV14-MPO-68081731
n11:predkladatel
n20:ico%3A68081731
n3:aktivita
n22:P
n3:aktivity
P(FR-TI2/705)
n3:cisloPatentuVzoru
304138
n3:datumUdeleniPatentuVzoru
2013-10-02+02:00
n3:dodaniDat
n13:2014
n3:domaciTvurceVysledku
n6:6620973 n6:9233598 n6:5467853 n6:2487667
n3:druhVysledku
n16:P
n3:duvernostUdaju
n23:S
n3:entitaPredkladatele
n9:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
119303
n3:idVysledku
RIV/68081731:_____/13:00423601
n3:jazykVysledku
n14:cze
n3:klicovaSlova
laser; interferometry; nanometrology; optical metrology; displacement; inteference phase detection
n3:klicoveSlovo
n7:interferometry n7:displacement n7:nanometrology n7:inteference%20phase%20detection n7:optical%20metrology n7:laser
n3:kontrolniKodProRIV
[7C469B00265A]
n3:licencniPoplatek
n4:A
n3:mistoVydaniPatentuVzoru
Prague
n3:nazevVydavatelePatentuVzoru
Úřad průmyslového vlastnictví
n3:obor
n17:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
4
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:projekt
n12:FR-TI2%2F705
n3:rokUplatneniVysledku
n13:2013
n3:statVydaniPatentuVzoru
n15:CZ
n3:tvurceVysledku
Šarbort, Martin Lazar, Josef Číp, Ondřej Řeřucha, Šimon
n3:uzemniOchranaPatentu
n8:E
n3:vlastnik
n9:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n5:A
n3:vyuzitiPatentuVzoru
n18:A
n3:vlastnikPatentuVzoru
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i