This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n20http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n21http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421263%21RIV14-TA0-68081731/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n19https://schema.org/
shttp://schema.org/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421263%21RIV14-TA0-68081731
rdf:type
n15:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Příspěvek prezentuje výsledky výzkumu na interferometrickém odměřovacím 6-osém systému pro mikroskopii s lokální sondou. Zařízení bylo vyvíjeno ve spolupráci s Českým metrologickým institutem v Brně a je v sestavě s AFM mikroskopem (mikroskop atomárních sil) určeno k provozu jako národní nanometrologický etalon. Systém sestává z komerčního nanopolohovacího stolku řízeného piezoelektrickými aktuátory s možností polohování, metrologického rámu a laserem napájené interferometrické sestavy pro odměřování polohy ve všech šesti osách volnosti. We present the design and performance characteristics of 6-axis interferometric measurement system for local probe microscopy. Described measurement tool was developed in colaboration with the Czech Metrological Institute in Brno and it is intended to solve as a national nanometrological standard. The system in based on a commercial nanopositioning sample table controlled by piezoelectric transducers, a metrological frame and a laser interferometric setup for dimensional measurements in six degrees of freedom. Příspěvek prezentuje výsledky výzkumu na interferometrickém odměřovacím 6-osém systému pro mikroskopii s lokální sondou. Zařízení bylo vyvíjeno ve spolupráci s Českým metrologickým institutem v Brně a je v sestavě s AFM mikroskopem (mikroskop atomárních sil) určeno k provozu jako národní nanometrologický etalon. Systém sestává z komerčního nanopolohovacího stolku řízeného piezoelektrickými aktuátory s možností polohování, metrologického rámu a laserem napájené interferometrické sestavy pro odměřování polohy ve všech šesti osách volnosti.
dcterms:title
Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii Multidimensional interferometric measuremenr system for AFM microscopy - national standard for nanometrology
skos:prefLabel
Multidimensional interferometric measuremenr system for AFM microscopy - national standard for nanometrology Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii
skos:notation
RIV/68081731:_____/13:00421263!RIV14-TA0-68081731
n15:predkladatel
n18:ico%3A68081731
n4:aktivita
n17:P n17:I
n4:aktivity
I, P(ED0017/01/01), P(EE2.4.31.0016), P(GPP102/11/P820), P(TA02010711), P(TE01020233)
n4:dodaniDat
n7:2014
n4:domaciTvurceVysledku
n14:2430320
n4:druhVysledku
n13:D
n4:duvernostUdaju
n6:S
n4:entitaPredkladatele
n21:predkladatel
n4:idSjednocenehoVysledku
90028
n4:idVysledku
RIV/68081731:_____/13:00421263
n4:jazykVysledku
n12:cze
n4:klicovaSlova
interferometry; nanometrology; AFM
n4:klicoveSlovo
n9:interferometry n9:nanometrology n9:AFM
n4:kontrolniKodProRIV
[B7B5E1262AFD]
n4:mistoKonaniAkce
Třešť
n4:mistoVydani
Brno
n4:nazevZdroje
Sborník příspěvků multioborové konference LASER53
n4:obor
n8:BH
n4:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n4:pocetTvurcuVysledku
1
n4:projekt
n5:TE01020233 n5:TA02010711 n5:ED0017%2F01%2F01 n5:GPP102%2F11%2FP820 n5:EE2.4.31.0016
n4:rokUplatneniVysledku
n7:2013
n4:tvurceVysledku
Hrabina, Jan
n4:typAkce
n11:CST
n4:zahajeniAkce
2013-10-30+01:00
s:numberOfPages
2
n20:hasPublisher
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i
n19:isbn
978-80-87441-10-7