This HTML5 document contains 56 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00385756%21RIV13-GA0-68081731/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n14http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00385756%21RIV13-GA0-68081731
rdf:type
skos:Concept n12:Vysledek
dcterms:description
Souřadnicové odměřování polohy umožňuje povýšit zobrazovací techniky mikroskopů na kvantifikovatelné měření. Zvláště techniky zobrazování v mikro a nanosvětě, překračující bariéru rozlišení danou vlnovou délkou viditelného světla, jsou vhodnými metodami, na jejichž základě lze konstruovat měřící systémy s nejlepším rozlišením. Mikroskopie atomárních sil, ostatní sondové mikroskopické metody a elektronová mikroskopie se po doplnění o přesné polohování a odměřování polohy sondy a vzorku mohou stát nástrojem pro nanometrologii - měření geometrických veličin v nanosvětě. Popis takového měřícího a polohovacího systému je předmětem tohoto článku. Coordinate position sensing allows upgrading the imaging microscope techniques up to quantified measuring. Especially imaging techniques in the micro and nanoworld overcoming the barrier of resolution given by the wavelength of visible light are a suitable basis for design of measuring systems with the best resolution possible. Atomic force microscopy, other local probe techniques and electron microscopy when equipped with precision positioning and measurement of the probe and sample may become a tool for nanometrology – measurement of geometrical quantities on the nanoscale. Description of such a measuring and positioning system is a subject of this article. Souřadnicové odměřování polohy umožňuje povýšit zobrazovací techniky mikroskopů na kvantifikovatelné měření. Zvláště techniky zobrazování v mikro a nanosvětě, překračující bariéru rozlišení danou vlnovou délkou viditelného světla, jsou vhodnými metodami, na jejichž základě lze konstruovat měřící systémy s nejlepším rozlišením. Mikroskopie atomárních sil, ostatní sondové mikroskopické metody a elektronová mikroskopie se po doplnění o přesné polohování a odměřování polohy sondy a vzorku mohou stát nástrojem pro nanometrologii - měření geometrických veličin v nanosvětě. Popis takového měřícího a polohovacího systému je předmětem tohoto článku.
dcterms:title
Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes
skos:prefLabel
Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes
skos:notation
RIV/68081731:_____/12:00385756!RIV13-GA0-68081731
n12:predkladatel
n13:ico%3A68081731
n3:aktivita
n15:P n15:I
n3:aktivity
I, P(ED0017/01/01), P(GA102/09/1276), P(GPP102/11/P820), P(TA02010711), P(TE01020233)
n3:cisloPeriodika
10
n3:dodaniDat
n14:2013
n3:domaciTvurceVysledku
n4:5170230 n4:2430320 n4:5629802 n4:5467853 n4:9233598
n3:druhVysledku
n16:J
n3:duvernostUdaju
n18:S
n3:entitaPredkladatele
n9:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
146504
n3:idVysledku
RIV/68081731:_____/12:00385756
n3:jazykVysledku
n11:cze
n3:klicovaSlova
coordinate position sensing; nanometrology; 3D position; atomic force microscopy; local probe techniques; electron microscopy
n3:klicoveSlovo
n5:coordinate%20position%20sensing n5:3D%20position n5:nanometrology n5:atomic%20force%20microscopy n5:local%20probe%20techniques n5:electron%20microscopy
n3:kodStatuVydavatele
CZ - Česká republika
n3:kontrolniKodProRIV
[5CA64D4094BF]
n3:nazevZdroje
Jemná mechanika a optika
n3:obor
n17:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
5
n3:pocetTvurcuVysledku
5
n3:projekt
n7:ED0017%2F01%2F01 n7:GPP102%2F11%2FP820 n7:TE01020233 n7:TA02010711 n7:GA102%2F09%2F1276
n3:rokUplatneniVysledku
n14:2012
n3:svazekPeriodika
57
n3:tvurceVysledku
Číp, Ondřej Lazar, Josef Šerý, Mojmír Hrabina, Jan Čížek, Martin
s:issn
0447-6441
s:numberOfPages
4