This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n14http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n21https://schema.org/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68081731%3A_____%2F08%3A00315452%21RIV09-AV0-68081731/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n6http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68081731%3A_____%2F08%3A00315452%21RIV09-AV0-68081731
rdf:type
skos:Concept n20:Vysledek
dcterms:description
Scanning low energy electron microscope equipped with cathode lens was employed in observation of differently doped areas in silicon imaged at units of eV. The phenomena connected with injected charge, contamination and modulation of electron reflectivity are discussed. Rastrovací elektronový mikroskop vybavený katodovou čočkou byl použit pro studium křemíku s různě dopovanými oblastmi, které byly zobrazeny na velmi nízkých energiích (jednotky eV). Jsou diskutovány jevy související s injektovaným nábojem, kontaminací a modulací reflektivity signálních elektronů. Scanning low energy electron microscope equipped with cathode lens was employed in observation of differently doped areas in silicon imaged at units of eV. The phenomena connected with injected charge, contamination and modulation of electron reflectivity are discussed.
dcterms:title
Scanning Low Energy Electron Microscopy of Doped Silicon at Units of EV Zobrazení dopovaného křemíku na velmi nízkých energiích pomocí rastrovacího elektronového mikroskopu Scanning Low Energy Electron Microscopy of Doped Silicon at Units of EV
skos:prefLabel
Zobrazení dopovaného křemíku na velmi nízkých energiích pomocí rastrovacího elektronového mikroskopu Scanning Low Energy Electron Microscopy of Doped Silicon at Units of EV Scanning Low Energy Electron Microscopy of Doped Silicon at Units of EV
skos:notation
RIV/68081731:_____/08:00315452!RIV09-AV0-68081731
n3:aktivita
n19:Z n19:P
n3:aktivity
P(IAA100650803), Z(AV0Z20650511)
n3:dodaniDat
n6:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n7:6440959 n7:5981689 n7:9000984
n3:druhVysledku
n10:D
n3:duvernostUdaju
n17:S
n3:entitaPredkladatele
n12:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
393839
n3:idVysledku
RIV/68081731:_____/08:00315452
n3:jazykVysledku
n9:eng
n3:klicovaSlova
SLEEM; dopant; silicon
n3:klicoveSlovo
n8:silicon n8:SLEEM n8:dopant
n3:kontrolniKodProRIV
[BEF1205EE0D4]
n3:mistoKonaniAkce
Skalský dvůr
n3:mistoVydani
Brno
n3:nazevZdroje
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation
n3:obor
n4:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
3
n3:projekt
n16:IAA100650803
n3:rokUplatneniVysledku
n6:2008
n3:tvurceVysledku
Frank, Luděk Mikmeková, Šárka Hovorka, Miloš
n3:typAkce
n18:EUR
n3:zahajeniAkce
2008-07-14+02:00
n3:zamer
n13:AV0Z20650511
s:numberOfPages
2
n14:hasPublisher
Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i
n21:isbn
978-80-254-0905-3