This HTML5 document contains 51 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030003%21RIV%2F2004%2FAV0%2FA12004%2FN/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n10http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030003%21RIV%2F2004%2FAV0%2FA12004%2FN
rdf:type
n11:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Optická pinzeta se během několika posledních let stala neocenitelným pomocníkem při studiu silových interakcí mezi mikročásticemi, nanočásticemi, živými buňkami, subbuněčnými strukturami a jednotlivými makromolekulami [1,2]. Její princip využívá skutečnosti, že dielektrická částice s indexem lomu vyšším než je okolní médium, je tažena do místa s největší intenzitou laserového svazku. Tyto síly se pohybují v řádech jednotek až stovek pN a umožňují prostorové zachycení dielektrických objektů o velikostech od několika desítek nanometrů po desítky mikrometrů. Doplní-li se sestava citlivým systémem pro detekci výchylky zachyceného objektu a vhodnou kalibrační metodou, lze ji využít jako citlivý profilometr pro měření povrchů, ke kterým není přímý mechanický přístup a které jsou např. v imerzním prostředí. In recent years, optical tweezers have become an invaluable tool at study of power interactions between micro-particles, nano-particles, live cells, sub-cellular structures and individual macromolecules [1,2]. Their princi ple exploits the fact, that a dielectric particle with the refraction index higher than the surrounding medium, is pulled to the place with the biggest intensity of the laser beam. These powers span in orders from units to hundreds of pN and enable spatial trapping of dielectric objects of sizes from several tens of nanometers to tens of micrometers. If the configuration is supplemented with a sensitive system for detection of deviation of the trapped object and a suitable callibration method, it is possible to use it as a sensitive profilometer for measurement of surfaces, which are not directly mechanically accessible and which are e.g. in an immersion environment.
dcterms:title
Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů. Use of optically trapped probes for measurement of inaccessible transparent surface profiles. Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů.
skos:prefLabel
Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů. Use of optically trapped probes for measurement of inaccessible transparent surface profiles. Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů.
skos:notation
RIV/68081731:_____/03:12030003!RIV/2004/AV0/A12004/N
n3:strany
170 ; 173
n3:aktivita
n16:Z n16:P
n3:aktivity
P(GA101/00/0974), P(IAA1065203), Z(AV0Z2065902)
n3:cisloPeriodika
6
n3:dodaniDat
n10:2004
n3:domaciTvurceVysledku
n8:3139522 n8:5170230 n8:2038145 n8:8291926
n3:druhVysledku
n18:J
n3:duvernostUdaju
n15:S
n3:entitaPredkladatele
n9:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
634767
n3:idVysledku
RIV/68081731:_____/03:12030003
n3:jazykVysledku
n13:cze
n3:klicovaSlova
optical tweezers; microparticles; nanoparticles
n3:klicoveSlovo
n4:optical%20tweezers n4:microparticles n4:nanoparticles
n3:kodStatuVydavatele
CZ - Česká republika
n3:kontrolniKodProRIV
[8A72A2894B77]
n3:nazevZdroje
Jemná mechanika a optika
n3:obor
n17:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
4
n3:pocetTvurcuVysledku
5
n3:pocetUcastnikuAkce
0
n3:pocetZahranicnichUcastnikuAkce
0
n3:projekt
n5:IAA1065203 n5:GA101%2F00%2F0974
n3:rokUplatneniVysledku
n10:2003
n3:svazekPeriodika
48
n3:tvurceVysledku
Ježek, Jan Liška, M. Zemánek, Pavel Šerý, Mojmír Jákl, Petr
n3:zamer
n7:AV0Z2065902
s:issn
0447-6441
s:numberOfPages
4