This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F61989100%3A27350%2F08%3A00019681%21RIV09-MSM-27350___/
n15http://localhost/temp/predkladatel/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n16http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F61989100%3A27350%2F08%3A00019681%21RIV09-MSM-27350___
rdf:type
n6:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Práce prezentuje vliv použití různých modelů odrazivosti systému tenká vrstva - podložka na vypočtení tloušťky tenké vrstvy. V prostředí Matlabu je vytvořen program, který pomocí obecného modelu vypočte teoretický průběh spektrální odrazivosti v závislosti na vlnové délce pro zvolenou tloušťku tenké vrstvy. Takto vypočtená odrazivost, která v další fázi studia simuluje naměřenou odrazivost, je zpracována dalším programem v Matlabu, který simulované (naměřené) reflexní spektrum fituje spektrem teoretickým, kde fitovaným parametrem je tloušťka vrstvy. Ve vstupních souborech fitovaného teoretického reflexního spektra jsou použity různé kombinace disperzních a nedisperzních optických parametrů systému tenká vrstva ? podložka a je sledován jejich vliv na hodnotu vypočtené tloušťky tenké vrstvy. This paper presents the effect of various reflectance models of the thin-film structure system on determination of the thin-film thickness. A special program was created in software package Matlab, which is able to calculate theoretical spectral reflectance in selected wavelength interval for the certain thin-film thickness. Afterwards, this reflectance, which simulates experimental reflectance during the following study, is processed by other program in Matlab. In this way the simulated reflectance is fitted to theoretical one with thin-film thickness as fitted parameter. Different combinations of optical parameters - dispersive and non-dispersive - for the thin-film structure system can be used as the input for the program files in the fitted reflection spectrum. Finally, the effect of reflectance models on the value of the thin-film thickness is discussed. Práce prezentuje vliv použití různých modelů odrazivosti systému tenká vrstva - podložka na vypočtení tloušťky tenké vrstvy. V prostředí Matlabu je vytvořen program, který pomocí obecného modelu vypočte teoretický průběh spektrální odrazivosti v závislosti na vlnové délce pro zvolenou tloušťku tenké vrstvy. Takto vypočtená odrazivost, která v další fázi studia simuluje naměřenou odrazivost, je zpracována dalším programem v Matlabu, který simulované (naměřené) reflexní spektrum fituje spektrem teoretickým, kde fitovaným parametrem je tloušťka vrstvy. Ve vstupních souborech fitovaného teoretického reflexního spektra jsou použity různé kombinace disperzních a nedisperzních optických parametrů systému tenká vrstva ? podložka a je sledován jejich vliv na hodnotu vypočtené tloušťky tenké vrstvy.
dcterms:title
Effect of the reflectance model on determination of the thin-film thickness Vliv použitého modelu odrazivosti na určení tloušťky tenké vrstvy Vliv použitého modelu odrazivosti na určení tloušťky tenké vrstvy
skos:prefLabel
Effect of the reflectance model on determination of the thin-film thickness Vliv použitého modelu odrazivosti na určení tloušťky tenké vrstvy Vliv použitého modelu odrazivosti na určení tloušťky tenké vrstvy
skos:notation
RIV/61989100:27350/08:00019681!RIV09-MSM-27350___
n4:aktivita
n18:Z
n4:aktivity
Z(MSM6198910016)
n4:cisloPeriodika
11-12
n4:dodaniDat
n16:2009
n4:domaciTvurceVysledku
n9:5271444 n9:7662114 n9:1171283 n9:4194128
n4:druhVysledku
n7:J
n4:duvernostUdaju
n17:S
n4:entitaPredkladatele
n5:predkladatel
n4:idSjednocenehoVysledku
403229
n4:idVysledku
RIV/61989100:27350/08:00019681
n4:jazykVysledku
n14:cze
n4:klicovaSlova
Fresnel?s formulas; spectral reflectance; thin-film structure; dispersion
n4:klicoveSlovo
n8:spectral%20reflectance n8:thin-film%20structure n8:dispersion n8:Fresnel%3Fs%20formulas
n4:kodStatuVydavatele
CZ - Česká republika
n4:kontrolniKodProRIV
[6A6969AE77DE]
n4:nazevZdroje
Jemná mechanika a optika
n4:obor
n11:BH
n4:pocetDomacichTvurcuVysledku
4
n4:pocetTvurcuVysledku
4
n4:rokUplatneniVysledku
n16:2008
n4:svazekPeriodika
53
n4:tvurceVysledku
Luňáčková, Milena Ciprian, Dalibor Hlubina, Petr Luňáček, Jiří
n4:zamer
n10:MSM6198910016
s:issn
0447-6441
s:numberOfPages
3
n15:organizacniJednotka
27350