This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n15http://localhost/temp/predkladatel/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F61989100%3A27350%2F08%3A00019668%21RIV09-MSM-27350___/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F61989100%3A27350%2F08%3A00019668%21RIV09-MSM-27350___
rdf:type
n11:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Je prezentována nová metoda přesného měření oscilační části fázové změny při odrazu (interferometrická fáze) od tenké vrstvy. A new method for a precise measurement of the oscillatory part of phase change on reflection (interferometric phase) from a thin-film structure is presented. A new method for a precise measurement of the oscillatory part of phase change on reflection (interferometric phase) from a thin-film structure is presented.
dcterms:title
Spectral interferometry and reflectometry used to measure thin films Spektrální interferometrie a reflektometrie použité k měření tenkých vrstev Spectral interferometry and reflectometry used to measure thin films
skos:prefLabel
Spectral interferometry and reflectometry used to measure thin films Spectral interferometry and reflectometry used to measure thin films Spektrální interferometrie a reflektometrie použité k měření tenkých vrstev
skos:notation
RIV/61989100:27350/08:00019668!RIV09-MSM-27350___
n3:aktivita
n8:Z
n3:aktivity
Z(MSM6198910016)
n3:cisloPeriodika
2
n3:dodaniDat
n7:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n4:4194128 n4:7662114 n4:1171283
n3:druhVysledku
n17:J
n3:duvernostUdaju
n5:S
n3:entitaPredkladatele
n18:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
396446
n3:idVysledku
RIV/61989100:27350/08:00019668
n3:jazykVysledku
n16:eng
n3:klicovaSlova
spectral interferometry; reflectometry; thin film; retrieved phase; thickness
n3:klicoveSlovo
n10:retrieved%20phase n10:thin%20film n10:reflectometry n10:thickness n10:spectral%20interferometry
n3:kodStatuVydavatele
US - Spojené státy americké
n3:kontrolniKodProRIV
[EC33A29CB25F]
n3:nazevZdroje
APPLIED PHYSICS B-LASERS AND OPTICS
n3:obor
n9:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:rokUplatneniVysledku
n7:2008
n3:svazekPeriodika
92
n3:tvurceVysledku
Hlubina, Petr Chlebus, Radek Ciprian, Dalibor Luňáček, Jiří
n3:zamer
n12:MSM6198910016
s:issn
0946-2171
s:numberOfPages
5
n15:organizacniJednotka
27350