This HTML5 document contains 43 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F61389021%3A_____%2F06%3A00048511%21RIV07-AV0-61389021/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n10http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F61389021%3A_____%2F06%3A00048511%21RIV07-AV0-61389021
rdf:type
n13:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Mikrostruktura plazmových nástřiků je velmi komplexní, neboť obsahuje ztuhnuté lamely, mikrotrhliny, neroztavené částice a drobné póry. Vnitřní struktura ztuhnutých lamel je často tvořena úzkými sloupcovými zrny nebo může být amorfní. Výbornou pomůckou ke studiu takovýchto jemných struktur a též i rozhraní mezi substrátem a nástřikem je transmisní elektronový mikroskop. Nicméně příprava vzorků do formy tenkých folií, které musí být tenčí než 500 nm, aby byl zajištěn průchod elektronů, je velmi náročná zvláště v případě keramických nástřiků na kovových substrátech. Tradiční způsoby přípravy vzorků využívají rozsáhlého iontového odprašování, které je náchylné ke generování artefaktů v připravovaném vzorku. V článku je podrobně představena metoda slešťování do klínku, která ve své modifikované podobě významně redukuje celkový čas závěrečného iontového odprašování. Několik příkladů použití této metody je v článku zdokumentováno. Microstructure of plasma sprayed deposits is usually very complex containing solidified lamellas, microcracks, unmelted particles and small voids. Internal structure of solidified lamellas is often composed of narrow columnar grains or can be amorphous. A powerful tool to study fine microstructures of the coatings and the complexities of the substrate/coating interfaces is the Transmission electron microscope. However, preparation of electron transparent foils, which require thickness below 500 nm, is very difficult especially in case of ceramic coatings on metal substrates. Traditional sample preparation techniques rely on extended ion-milling that tends to generate ion-induced artifacts in the samples. The modified wedge polishing technique introduced in the paper significantly reduces the time required for final ion-milling step. Several samples prepared be the wedge polishing method are documented. Microstructure of plasma sprayed deposits is usually very complex containing solidified lamellas, microcracks, unmelted particles and small voids. Internal structure of solidified lamellas is often composed of narrow columnar grains or can be amorphous. A powerful tool to study fine microstructures of the coatings and the complexities of the substrate/coating interfaces is the Transmission electron microscope. However, preparation of electron transparent foils, which require thickness below 500 nm, is very difficult especially in case of ceramic coatings on metal substrates. Traditional sample preparation techniques rely on extended ion-milling that tends to generate ion-induced artifacts in the samples. The modified wedge polishing technique introduced in the paper significantly reduces the time required for final ion-milling step. Several samples prepared be the wedge polishing method are documented.
dcterms:title
Transmisní elektronová mikroskopie plasmově stříkaných keramických nástřiků Transmission electron microscopy of plasma sprayed ceramic deposits Transmission electron microscopy of plasma sprayed ceramic deposits
skos:prefLabel
Transmission electron microscopy of plasma sprayed ceramic deposits Transmisní elektronová mikroskopie plasmově stříkaných keramických nástřiků Transmission electron microscopy of plasma sprayed ceramic deposits
skos:notation
RIV/61389021:_____/06:00048511!RIV07-AV0-61389021
n5:strany
403;413
n5:aktivita
n11:Z n11:P
n5:aktivity
P(GP106/04/P012), Z(AV0Z20430508)
n5:cisloPeriodika
4
n5:dodaniDat
n10:2007
n5:domaciTvurceVysledku
n8:6668216
n5:druhVysledku
n14:J
n5:duvernostUdaju
n9:S
n5:entitaPredkladatele
n18:predkladatel
n5:idSjednocenehoVysledku
504246
n5:idVysledku
RIV/61389021:_____/06:00048511
n5:jazykVysledku
n17:eng
n5:klicovaSlova
TEM; sample preparation; plasma spraying; ceramics
n5:klicoveSlovo
n6:ceramics n6:sample%20preparation n6:TEM n6:plasma%20spraying
n5:kodStatuVydavatele
CZ - Česká republika
n5:kontrolniKodProRIV
[B28AEB6D3E71]
n5:nazevZdroje
Acta Technica ČSAV
n5:obor
n12:JH
n5:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n5:pocetTvurcuVysledku
1
n5:projekt
n15:GP106%2F04%2FP012
n5:rokUplatneniVysledku
n10:2006
n5:svazekPeriodika
51
n5:tvurceVysledku
Chraska, Tomas
n5:zamer
n16:AV0Z20430508
s:issn
0001-7043
s:numberOfPages
11