This HTML5 document contains 52 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n14http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
n13https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n17http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F61389013%3A_____%2F08%3A00312280%21RIV09-AV0-61389013/
n4http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F61389013%3A_____%2F08%3A00312280%21RIV09-AV0-61389013
rdf:type
skos:Concept n18:Vysledek
dcterms:description
Many polymer systems contain matrix filled with particles with very broad size distributions. Such systems are, for instance, high-impact polystyrene or ultra-high molecular weight polyethylene wear particles. Morphological analysis of particles in these systems requires special treatment. This is due to the fact that the smallest and the biggest particles cannot be observed at the same magnification. We show that analysis of both low- and high-magnification micrographs with our own software MDIST yields the correct distribution of sizes and other morphological parameters. Many polymer systems contain matrix filled with particles with very broad size distributions. Such systems are, for instance, high-impact polystyrene or ultra-high molecular weight polyethylene wear particles. Morphological analysis of particles in these systems requires special treatment. This is due to the fact that the smallest and the biggest particles cannot be observed at the same magnification. We show that analysis of both low- and high-magnification micrographs with our own software MDIST yields the correct distribution of sizes and other morphological parameters. Mnoho polymerních systémů sestává z matrice naplněné částicemi s velkou distribucí velikostí. Takovými systémy jsou například houževnatý polystyren nebo otěrové částice vysokomolekulárního polyethylenu. Morfologická analýza částic v těchto systémech musí být provedena speciálním způsobem, což je způsobeno skutečností, že nejmenší a největší částice nelze pozorovat současně při jediném zvětšení. V tomto příspěvku ukazujeme, jak získat korektní distribuce velikostí a dalších morfologických parametrů pomocí současné analýzy mikrofotografií s vysokým a nízkým zvětšením v kombinaci s naším vlastním programem MDIST.
dcterms:title
Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST Morfologická analýza částic s velmi širokou distribucí velikostí pomocí programu MDIST
skos:prefLabel
Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST Morfologická analýza částic s velmi širokou distribucí velikostí pomocí programu MDIST Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST
skos:notation
RIV/61389013:_____/08:00312280!RIV09-AV0-61389013
n3:aktivita
n12:Z n12:P
n3:aktivity
P(2B06096), P(FT-TA3/110), Z(AV0Z40500505)
n3:dodaniDat
n4:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n11:5699207 n11:6116094 Pavlova, Ewa n11:7505736 n11:4252454
n3:druhVysledku
n20:D
n3:duvernostUdaju
n8:S
n3:entitaPredkladatele
n17:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
380620
n3:idVysledku
RIV/61389013:_____/08:00312280
n3:jazykVysledku
n19:eng
n3:klicovaSlova
electron microscopy; image analysis; polyethylene and polystyrene
n3:klicoveSlovo
n7:image%20analysis n7:electron%20microscopy n7:polyethylene%20and%20polystyrene
n3:kontrolniKodProRIV
[8E999EF1DC79]
n3:mistoKonaniAkce
Aachen
n3:mistoVydani
Berlin
n3:nazevZdroje
Proceedings of the 14th European Microscopy Congress EMC 2008
n3:obor
n10:CD
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
5
n3:pocetTvurcuVysledku
5
n3:projekt
n9:FT-TA3%2F110 n9:2B06096
n3:rokUplatneniVysledku
n4:2008
n3:tvurceVysledku
Šlouf, Miroslav Pavlova, Ewa Hromádková, Jiřina Vlková, Helena Lapčíková, Monika
n3:typAkce
n21:WRD
n3:zahajeniAkce
2008-09-01+02:00
n3:zamer
n15:AV0Z40500505
s:numberOfPages
2
n14:hasPublisher
Springer Verlag Berlin Heidelberg
n13:isbn
978-3-540-85154-7