This HTML5 document contains 56 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

Prefix	IRI
n21	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dcterms	http://purl.org/dc/terms/
n16	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F60162694%3AG43__%2F05%3AZ%C3%81ZNAM16%21RIV06-MO0-G43_____/
n20	http://localhost/temp/predkladatel/
n18	http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n13	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n6	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n19	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n14	https://schema.org/
s	http://schema.org/
skos	http://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdf	http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n7	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdh	http://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n11	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n15	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n10	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n4	http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item

n2:RIV%2F60162694%3AG43__%2F05%3AZ%C3%81ZNAM16%21RIV06-MO0-G43_____

rdf:type

skos:Concept n19:Vysledek

dcterms:description

Radiační poškození vybraných elektronických součástek Radiation Damage of Selected Electronic Components Radiation Damage of Selected Electronic Components

dcterms:title

Radiation Damage of Selected Electronic Components Radiační poškození vybraných elektronických součástek Radiation Damage of Selected Electronic Components

skos:prefLabel

Radiační poškození vybraných elektronických součástek Radiation Damage of Selected Electronic Components Radiation Damage of Selected Electronic Components

skos:notation

RIV/60162694:G43__/05:ZÁZNAM16!RIV06-MO0-G43_____

n3:strany

224-227

n3:aktivita

n11:P

n3:aktivity

P(MO83171199105), P(OB03171100009)

n3:dodaniDat

n4:2006

n3:domaciTvurceVysledku

n13:6606288 n13:9782656

n3:druhVysledku

n15:D

n3:duvernostUdaju

n7:S

n3:entitaPredkladatele

n16:predkladatel

n3:idSjednocenehoVysledku

539931

n3:idVysledku

RIV/60162694:G43__/05:ZÁZNAM16

n3:jazykVysledku

n17:eng

n3:klicovaSlova

CMOS RAM 62256 memory; RAM62C256 Hitachi; RAM62C256 Micron; microprocessor 80C552; RTC; UART; display; damage; measurement; radioactive radiation; neutron; proton; deuton

n3:klicoveSlovo

n5:RAM62C256%20Hitachi n5:RAM62C256%20Micron n5:neutron n5:RTC n5:radioactive%20radiation n5:UART n5:deuton n5:measurement n5:microprocessor%2080C552 n5:CMOS%20RAM%2062256%20memory n5:proton n5:damage n5:display

n3:kontrolniKodProRIV

[93BEB8F0DC05]

n3:mistoKonaniAkce

Plzeň

n3:mistoVydani

Plzeň

n3:nazevZdroje

Proceedings of International Conference “Applied Electronics’03”

n3:obor

n10:JB

n3:pocetDomacichTvurcuVysledku

3

n3:pocetTvurcuVysledku

3

n3:projekt

n6:MO83171199105 n6:OB03171100009

n3:rokUplatneniVysledku

n4:2005

n3:tvurceVysledku

Čeleda, Pavel Bureš, Zbyněk

n3:typAkce

n21:EUR

n3:zahajeniAkce

2003-01-01+01:00

s:numberOfPages

4

n18:hasPublisher

Neuveden

n14:isbn

80-7082-951-6

n20:organizacniJednotka

G43