This HTML5 document contains 42 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n16http://localhost/temp/predkladatel/
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/podDruhVysledku/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/licencniPoplatek/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F49777513%3A23220%2F09%3A00502927%21RIV10-MSM-23220___/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/kategorie/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n12http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F49777513%3A23220%2F09%3A00502927%21RIV10-MSM-23220___
rdf:type
n10:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Zařízení umožnuje měřit statické parametry fototranzistorů na základě různé vlnové délky a intenzity světelného záření. Integrované analogové měřící přístroje přímo zobazují hodnoty proudů a napětí jednotlivých měřených fototranzistorů. Rozsahy měřících přístrojů je možné měnit volbou vhodných bočníků a předřadníků. The equipment makes it possible to measure static parameters of phototransistors based on different wavelengths and intensity of light. Integrated analog measurement devices show current and voltage values of particular measured phototransistors. The range of measurement devices is possible to change by suitable ballast and shunt resistor. Zařízení umožnuje měřit statické parametry fototranzistorů na základě různé vlnové délky a intenzity světelného záření. Integrované analogové měřící přístroje přímo zobazují hodnoty proudů a napětí jednotlivých měřených fototranzistorů. Rozsahy měřících přístrojů je možné měnit volbou vhodných bočníků a předřadníků.
dcterms:title
Equipment for static parameters measurement of phototransistor Zařízení pro měření statických parametrů fototranzistorů Zařízení pro měření statických parametrů fototranzistorů
skos:prefLabel
Zařízení pro měření statických parametrů fototranzistorů Equipment for static parameters measurement of phototransistor Zařízení pro měření statických parametrů fototranzistorů
skos:notation
RIV/49777513:23220/09:00502927!RIV10-MSM-23220___
n3:aktivita
n9:S
n3:aktivity
S
n3:dodaniDat
n12:2010
n3:domaciTvurceVysledku
n14:5241235
n3:druhVysledku
n5:G%2FB
n3:duvernostUdaju
n17:S
n3:ekonomickeParametry
Zařízení lze použít pro laboratorní i průmyslové využití
n3:entitaPredkladatele
n6:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
352639
n3:idVysledku
RIV/49777513:23220/09:00502927
n3:interniIdentifikace
22130-FV021-2009
n3:jazykVysledku
n15:cze
n3:kategorie
n18:A
n3:klicovaSlova
phototransistor; static characteristics; optoelectronics
n3:klicoveSlovo
n7:optoelectronics n7:phototransistor n7:static%20characteristics
n3:kontrolniKodProRIV
[60B5A0CC823F]
n3:licencniPoplatek
n13:A
n3:lokalizaceVysledku
ZČU, FEL, Katedra technologií a měření
n3:obor
n19:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
2
n3:rokUplatneniVysledku
n12:2009
n3:technickeParametry
Specifické elektronické zařízení určené pro měření elektronických součástek
n3:tvurceVysledku
Blecha, Tomáš Otto, Martin
n3:vlastnik
n6:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n4:A
n16:organizacniJednotka
23220