This HTML5 document contains 42 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n19http://localhost/temp/predkladatel/
n3http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F47813059%3A19240%2F04%3A%230002012%21RIV09-MSM-19240___/
n10https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n8http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F47813059%3A19240%2F04%3A%230002012%21RIV09-MSM-19240___
rdf:type
n12:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Dvě různé techniky ve spektrální doméně založené na reflektometrii a interferometrii v bílém světle jsou použity pro měření spektrálních charakteristik systémů s tenkými filmy. Technika spektrální reflektometrie používá standardní konfiguraci s halogenovou lampou, reflexní sondou a systémem testovaných tenkých filmů k záznamu reflexního spektra přes široký rozsah vlnových délek. Nová technika spektrální interferometrie v bílém světle používá lehce disperzivní Michelsonův interferometr a krychlovým děličem paprsku k měření fázového spektra reflexního nebo transparentního systému tenkých filmů přes široký rozsah vlnových délek. Two different spectral-domain techniques based on reflectometry and white-light interferometry are used to measure spectral characteristics of thin-film systems. A technique of spectral reflectometry uses a standard configuration with a halogen lamp, a reflection probe and a thin-film system under test to record the reflection spectrum over a wide range of wavelengths. A new white-light spectral interferometric technique uses a slightly dispersive Michelson interferometer with a cube beamsplitter to measure the phase spectra of reflective or transparent thin-film systems over a wide range of wavelengths. This technique is based on a Fourier transform method in processing the recorded spectral interferograms to obtain the ambiguous spectral fringe phase function... Two different spectral-domain techniques based on reflectometry and white-light interferometry are used to measure spectral characteristics of thin-film systems. A technique of spectral reflectometry uses a standard configuration with a halogen lamp, a reflection probe and a thin-film system under test to record the reflection spectrum over a wide range of wavelengths. A new white-light spectral interferometric technique uses a slightly dispersive Michelson interferometer with a cube beamsplitter to measure the phase spectra of reflective or transparent thin-film systems over a wide range of wavelengths. This technique is based on a Fourier transform method in processing the recorded spectral interferograms to obtain the ambiguous spectral fringe phase function...
dcterms:title
Spectral reflectrometry and white-light interferometry used to measure thin films Spectral reflectrometry and white-light interferometry used to measure thin films Využití spektrální reflektometrie a interferometrie v bílém světle pro měření tenkých filmů
skos:prefLabel
Spectral reflectrometry and white-light interferometry used to measure thin films Využití spektrální reflektometrie a interferometrie v bílém světle pro měření tenkých filmů Spectral reflectrometry and white-light interferometry used to measure thin films
skos:notation
RIV/47813059:19240/04:#0002012!RIV09-MSM-19240___
n4:aktivita
n18:S
n4:aktivity
S
n4:dodaniDat
n8:2009
n4:domaciTvurceVysledku
n16:1171283
n4:druhVysledku
n7:D
n4:duvernostUdaju
n15:S
n4:entitaPredkladatele
n13:predkladatel
n4:idSjednocenehoVysledku
587385
n4:idVysledku
RIV/47813059:19240/04:#0002012
n4:jazykVysledku
n9:eng
n4:klicovaSlova
INTERFERENCE, THICKNESS
n4:klicoveSlovo
n5:THICKNESS n5:INTERFERENCE
n4:kontrolniKodProRIV
[3F269E9B6600]
n4:mistoKonaniAkce
Strasbourg, FRANCE
n4:mistoVydani
BELLINGHAM, USA
n4:nazevZdroje
PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
n4:obor
n20:BH
n4:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n4:pocetTvurcuVysledku
1
n4:rokUplatneniVysledku
n8:2004
n4:tvurceVysledku
Hlubina, Petr
n4:typAkce
n14:WRD
n4:wos
000224432300083
n4:zahajeniAkce
2004-01-01+01:00
s:issn
0277-786X
s:numberOfPages
9
n3:hasPublisher
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
n10:isbn
0-8194-5379-X
n19:organizacniJednotka
19240