This HTML5 document contains 49 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n13http://localhost/temp/predkladatel/
n11http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n12https://schema.org/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F47813059%3A19240%2F03%3A%230002019%21RIV09-MSM-19240___/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n4http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F47813059%3A19240%2F03%3A%230002019%21RIV09-MSM-19240___
rdf:type
skos:Concept n18:Vysledek
dcterms:description
Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained... Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained... Dvoupaprsková interference na výstupu lehce disperzního Michelsonova interferometru je použita k měření fázového spektra transparentních filmů skrze širokou škálu vlnových délek. Použitím Fourierovy transformace v procesu zaznamenaného spektrálního interferogramu byly získány nejednoznačné fázové funkce spektrálních proužků.
dcterms:title
Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry Měření fázového spektra transparentních tenkých filmů s použitím interferometrie bílého světla Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
skos:prefLabel
Měření fázového spektra transparentních tenkých filmů s použitím interferometrie bílého světla Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
skos:notation
RIV/47813059:19240/03:#0002019!RIV09-MSM-19240___
n3:aktivita
n14:S
n3:aktivity
S
n3:dodaniDat
n4:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n15:1171283
n3:druhVysledku
n20:D
n3:duvernostUdaju
n9:S
n3:entitaPredkladatele
n6:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
614604
n3:idVysledku
RIV/47813059:19240/03:#0002019
n3:jazykVysledku
n16:eng
n3:klicovaSlova
white-light source, spectral interference, Michelson interferometer, Fourier transform method, optical element, thickness, low refractive index dispersion, thin films, phase spectrum
n3:klicoveSlovo
n5:Michelson%20interferometer n5:low%20refractive%20index%20dispersion n5:thickness n5:Fourier%20transform%20method n5:phase%20spectrum n5:spectral%20interference n5:thin%20films n5:white-light%20source n5:optical%20element
n3:kontrolniKodProRIV
[48A529537DF2]
n3:mistoKonaniAkce
Ostrava, CZECH REPUBLIC
n3:mistoVydani
USA
n3:nazevZdroje
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY 2003: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
n3:obor
n17:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
1
n3:rokUplatneniVysledku
n4:2003
n3:tvurceVysledku
Hlubina, Petr
n3:typAkce
n10:EUR
n3:wos
000221853300024
n3:zahajeniAkce
2003-01-01+01:00
s:issn
0277-786X
s:numberOfPages
4
n11:hasPublisher
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
n12:isbn
0-8194-5368-4
n13:organizacniJednotka
19240