This HTML5 document contains 41 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F46903879%3A_____%2F01%3A69980000%21RIV%2F2002%2FMSM%2FOK3222%2FN/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n11http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F46903879%3A_____%2F01%3A69980000%21RIV%2F2002%2FMSM%2FOK3222%2FN
rdf:type
skos:Concept n8:Vysledek
dcterms:description
Rentgenový fotoemisní a nízkoenergetický elektronový mikroskop XPLEEM s energiovým hemisférickým analyzátorem s aplikací kapilární optiky. X-ray photoemission and low energy electron microscope XPLEEM with energy hemispheric analyzer using capillary optics.
dcterms:title
X-ray photoemission and low energy electron microscope XPLEEM Rentgenový fotoemisní a nízkoenergetický mikroskop XPLEEM. Rentgenový fotoemisní a nízkoenergetický mikroskop XPLEEM.
skos:prefLabel
Rentgenový fotoemisní a nízkoenergetický mikroskop XPLEEM. Rentgenový fotoemisní a nízkoenergetický mikroskop XPLEEM. X-ray photoemission and low energy electron microscope XPLEEM
skos:notation
RIV/46903879:_____/01:69980000!RIV/2002/MSM/OK3222/N
n3:aktivita
n10:P
n3:aktivity
P(OK 322)
n3:dodaniDat
n11:2002
n3:domaciTvurceVysledku
n14:3068269
n3:druhVysledku
n15:T
n3:duvernostUdaju
n7:C
n3:ekonomickeParametry
Prototyp slouží pro přípravu zahájení sériové výroby v roce 2004 a tím zvýšení objemu výroby v oblasti Hi-tech.
n3:entitaPredkladatele
n9:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
694513
n3:idVysledku
RIV/46903879:_____/01:69980000
n3:interniIdentifikace
DI-XPLEEM
n3:jazykVysledku
n4:cze
n3:klicovaSlova
photoemission;electron;low;energy;microscope
n3:klicoveSlovo
n5:microscope n5:energy n5:low n5:photoemission n5:electron
n3:kontrolniKodProRIV
[F8B12CB58E8F]
n3:lokalizaceVysledku
Vývojové středisko firmy
n3:obor
n16:BG
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
2
n3:pocetTvurcuVysledku
2
n3:pocetUcastnikuAkce
0
n3:pocetZahranicnichUcastnikuAkce
0
n3:projekt
n12:OK%20322
n3:rokUplatneniVysledku
n11:2001
n3:technickeParametry
Analýza v energetickém rozsahu 100 až 2000 eV, analyzovaná oblast 0,3mm, pracovní vzdálenost 30mm, rozlišovací schopnost 4000 pro 100eV a 2500 pro 500eV, hemisférický analyzátor.
n3:tvurceVysledku
Kolařík, Vladimír
n3:vlastnik
n9:vlastnikVysledku