This HTML5 document contains 40 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n18http://localhost/temp/predkladatel/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F46747885%3A24220%2F08%3A%230001187%21RIV09-AV0-24220___/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n9http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F46747885%3A24220%2F08%3A%230001187%21RIV09-AV0-24220___
rdf:type
n13:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Článek se zabývá testováním pomocí překrývání vzorků. The paper is about Test Pattern Overlapping. The paper is about Test Pattern Overlapping.
dcterms:title
Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Překrývání testovacích vzorků - Slibná kompresní metoda pro úzký mechanismus testovacího přístupu obvodu na čipu
skos:prefLabel
Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Test Pattern Overlapping - a Promising Compression Method for Narrow Test Access Mechanism SOC Circuits Překrývání testovacích vzorků - Slibná kompresní metoda pro úzký mechanismus testovacího přístupu obvodu na čipu
skos:notation
RIV/46747885:24220/08:#0001187!RIV09-AV0-24220___
n3:aktivita
n4:P
n3:aktivity
P(1QS108040510)
n3:cisloPeriodika
1
n3:dodaniDat
n9:2009
n3:domaciTvurceVysledku
n12:9570748 n12:5144795
n3:druhVysledku
n5:J
n3:duvernostUdaju
n14:S
n3:entitaPredkladatele
n16:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
399654
n3:idVysledku
RIV/46747885:24220/08:#0001187
n3:jazykVysledku
n8:eng
n3:klicovaSlova
Test Pattern Compression
n3:klicoveSlovo
n11:Test%20Pattern%20Compression
n3:kodStatuVydavatele
UA - Ukrajina
n3:kontrolniKodProRIV
[86268F22F70C]
n3:nazevZdroje
Radioelectronics & Informatics
n3:obor
n17:JC
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
2
n3:pocetTvurcuVysledku
2
n3:projekt
n7:1QS108040510
n3:rokUplatneniVysledku
n9:2008
n3:svazekPeriodika
2008
n3:tvurceVysledku
Novák, O. Jeníček, J.
s:issn
1563-0064
s:numberOfPages
8
n18:organizacniJednotka
24220