This HTML5 document contains 48 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n18http://localhost/temp/predkladatel/
n10http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n15https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000122%21RIV06-GA0-24220___/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n8http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000122%21RIV06-GA0-24220___
rdf:type
n5:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
A part of EduChip Test Access Block (TA block) is presented in this paper. This chip was developed to demonstrate the Boundary Scan and Random Access Scan, controlled by separated TAP controllers.This paper is focused particularly on the layout design and on the measured results. A part of EduChip Test Access Block (TA block) is presented in this paper. This chip was developed to demonstrate the Boundary Scan and Random Access Scan, controlled by separated TAP controllers.This paper is focused particularly on the layout design and on the measured results. Prezentována je jedna část EduChipu jménem Test Access Block (TA block). Tento obvod byl vyvinut pro srovnání vlastností dvou různých diagnostických metod - Boundary Scan (BS) a Random Access Scan (RAS).Tento příspěvek je zaměřen především na praktickourealizaci návrhu a na výsledky měření.
dcterms:title
Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan Obvod Test_access - srovnání sériového a paralelního rozhraní Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan
skos:prefLabel
Obvod Test_access - srovnání sériového a paralelního rozhraní Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan
skos:notation
RIV/46747885:24220/05:00000122!RIV06-GA0-24220___
n3:strany
861-865
n3:aktivita
n19:P
n3:aktivity
P(GA102/04/2137)
n3:dodaniDat
n8:2006
n3:domaciTvurceVysledku
n16:9570748 n16:7390742
n3:druhVysledku
n14:D
n3:duvernostUdaju
n6:S
n3:entitaPredkladatele
n11:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
546465
n3:idVysledku
RIV/46747885:24220/05:00000122
n3:jazykVysledku
n17:eng
n3:klicovaSlova
Digital ICs Testing, Boundary Scan, Random Access Scan, Educational Chips
n3:klicoveSlovo
n9:Digital%20ICs%20Testing n9:Random%20Access%20Scan n9:Boundary%20Scan n9:Educational%20Chips
n3:kontrolniKodProRIV
[C9DFD5B0A548]
n3:mistoKonaniAkce
Krakow, Poland
n3:mistoVydani
Krakow, Poland
n3:nazevZdroje
Proceedings of MIXDES2005
n3:obor
n21:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
2
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:projekt
n4:GA102%2F04%2F2137
n3:rokUplatneniVysledku
n8:2005
n3:tvurceVysledku
Grodner, M. Novák, Ondřej Plíva, Zdeněk Siekierska, K.
n3:typAkce
n12:WRD
n3:zahajeniAkce
2005-01-01+01:00
s:numberOfPages
5
n10:hasPublisher
Neuveden
n15:isbn
83-919289-9-3
n18:organizacniJednotka
24220