This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n20http://localhost/temp/predkladatel/
n8http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F46747885%3A24220%2F04%3A00000117%21RIV%2F2005%2FGA0%2F242205%2FN/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n14http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F46747885%3A24220%2F04%3A00000117%21RIV%2F2005%2FGA0%2F242205%2FN
rdf:type
skos:Concept n19:Vysledek
dcterms:description
Vytvoření algoritmu komprese testovacích vektorů. The paper presents a new test pattern compression method. The paper presents a new test pattern compression method.
dcterms:title
Test Set Compaction and Compression for circuits with Scan Kompakce a komprese testovacích vzorků pro obvody s diagnostickým přístupem Test Set Compaction and Compression for circuits with Scan
skos:prefLabel
Test Set Compaction and Compression for circuits with Scan Kompakce a komprese testovacích vzorků pro obvody s diagnostickým přístupem Test Set Compaction and Compression for circuits with Scan
skos:notation
RIV/46747885:24220/04:00000117!RIV/2005/GA0/242205/N
n3:strany
13-14
n3:aktivita
n11:P
n3:aktivity
P(GA102/04/2137)
n3:dodaniDat
n14:2005
n3:domaciTvurceVysledku
n4:5144795 n4:6540716 n4:9570748 n4:5372240
n3:druhVysledku
n13:D
n3:duvernostUdaju
n7:S
n3:entitaPredkladatele
n18:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
590009
n3:idVysledku
RIV/46747885:24220/04:00000117
n3:jazykVysledku
n15:eng
n3:klicovaSlova
%22built-in diagnostic aids;chip diagnostics%22
n3:klicoveSlovo
n5:chip%20diagnostics%2522 n5:%2522built-in%20diagnostic%20aids
n3:kontrolniKodProRIV
[CF0277D2BA85]
n3:mistoKonaniAkce
Ajacio Corsica, France
n3:mistoVydani
Ajacio Corsica, France
n3:nazevZdroje
Informal Digest of Papers of the IEEE European Test Symposium
n3:obor
n12:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
4
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:projekt
n9:GA102%2F04%2F2137
n3:rokUplatneniVysledku
n14:2004
n3:tvurceVysledku
Holubec, Miroslav Jeníček, Jiří Novák, Ondřej Zahrádka, Jiří
n3:typAkce
n17:EUR
n3:zahajeniAkce
2004-01-01+01:00
s:numberOfPages
2
n8:hasPublisher
Neuveden
n20:organizacniJednotka
24220