This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n18http://localhost/temp/predkladatel/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F46747885%3A24220%2F04%3A00000116%21RIV%2F2005%2FGA0%2F242205%2FN/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n14http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F46747885%3A24220%2F04%3A00000116%21RIV%2F2005%2FGA0%2F242205%2FN
rdf:type
n5:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
The paper presents new Built-in Self Test diagnostic method that spares hardware resources and keeps the memory requirements low. Nová metoda vestavené diagnostiky, která má nižší nároky na paměť a hardware než srovnatelné dosud publikované metody. The paper presents new Built-in Self Test diagnostic method that spares hardware resources and keeps the memory requirements low.
dcterms:title
Test-Per-Clock Logic BIST with Semi-Deterministic Test Patterns and Zero-Aliasing Compactor Test-Per-Clock Logic BIST with Semi-Deterministic Test Patterns and Zero-Aliasing Compactor Vestavěná diagnostika částečně deterministickými testovacími vzorky a s analyzátorem odezev bezpečným proti splývání odezev
skos:prefLabel
Test-Per-Clock Logic BIST with Semi-Deterministic Test Patterns and Zero-Aliasing Compactor Vestavěná diagnostika částečně deterministickými testovacími vzorky a s analyzátorem odezev bezpečným proti splývání odezev Test-Per-Clock Logic BIST with Semi-Deterministic Test Patterns and Zero-Aliasing Compactor
skos:notation
RIV/46747885:24220/04:00000116!RIV/2005/GA0/242205/N
n3:strany
109-122
n3:aktivita
n15:P
n3:aktivity
P(GA102/04/2137)
n3:cisloPeriodika
20
n3:dodaniDat
n14:2005
n3:domaciTvurceVysledku
n8:7390742 n8:9570748 n8:1829300
n3:druhVysledku
n13:J
n3:duvernostUdaju
n11:S
n3:entitaPredkladatele
n4:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
590100
n3:idVysledku
RIV/46747885:24220/04:00000116
n3:jazykVysledku
n17:eng
n3:klicovaSlova
%22built-in diagnostic aids;chip diagnostics%22
n3:klicoveSlovo
n9:chip%20diagnostics%2522 n9:%2522built-in%20diagnostic%20aids
n3:kodStatuVydavatele
DE - Spolková republika Německo
n3:kontrolniKodProRIV
[0F523E7E6DD6]
n3:nazevZdroje
Kluwer Academic Publishers - Journal of Electronic Testing: Theory and Applications
n3:obor
n12:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
6
n3:projekt
n7:GA102%2F04%2F2137
n3:rokUplatneniVysledku
n14:2004
n3:svazekPeriodika
Neuveden
n3:tvurceVysledku
Nosek, Jaroslav Plíva, Zdeněk Novák, Ondřej Gucwa, K. Hlawiczka, A. Garbolino, T.
s:issn
0923-8174
s:numberOfPages
14
n18:organizacniJednotka
24220