This HTML5 document contains 53 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n21http://localhost/temp/predkladatel/
n8http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26230%2F07%3APU70842%21RIV08-MSM-26230___/
n18https://schema.org/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n16http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26230%2F07%3APU70842%21RIV08-MSM-26230___
rdf:type
skos:Concept n22:Vysledek
dcterms:description
The paper presents a toolset utilizable for learning and training principles related to design-for-testability of digital systems by means of structural and ad-hoc techniques. Actually, the toolset consists of two tools named SET and CADeT. Using the tools, user is allowed to make experiments in the optimization area which goal is to achieve feasible cost/quality trade-off among design-constraints and diagnostic requirements posed on a digital system. In the paper, basic education-related characteristics of the tools are briefly presented. Ve článku jsou představeny nástroje využitelné pro výuku a procvičování orincipů souvisejících s návrhem pro snadnou testovatelnost číslicových systémů pomocí strukturálních a ad-hoc technik. Jsou prezentovány nástroje SET a CADeT, s jejichž využitím je uživatel schopen spouštět experimenty v oblasti optimalizace s cílem dosažení přijatelného kompromisu mezi cenou a kvalitou mezi uživatelskými návrhovými omezeními a diägnostickými vlastnostmi výsledného systému. Článek je zaměřen zejména na nastínění výzkumně-výukových možností nástrojů SET a CADeT. The paper presents a toolset utilizable for learning and training principles related to design-for-testability of digital systems by means of structural and ad-hoc techniques. Actually, the toolset consists of two tools named SET and CADeT. Using the tools, user is allowed to make experiments in the optimization area which goal is to achieve feasible cost/quality trade-off among design-constraints and diagnostic requirements posed on a digital system. In the paper, basic education-related characteristics of the tools are briefly presented.
dcterms:title
Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis Sada nástrojů pro experimentování s optimalizacemi v oblasti kompromisu mezi cenou a kvalitou návrhu pro snadnou testovatelnost číslicových obvodů
skos:prefLabel
Sada nástrojů pro experimentování s optimalizacemi v oblasti kompromisu mezi cenou a kvalitou návrhu pro snadnou testovatelnost číslicových obvodů Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis
skos:notation
RIV/00216305:26230/07:PU70842!RIV08-MSM-26230___
n3:strany
333-338
n3:aktivita
n13:P n13:Z
n3:aktivity
P(GP102/05/P193), Z(MSM0021630528)
n3:dodaniDat
n16:2008
n3:domaciTvurceVysledku
n12:8821968
n3:druhVysledku
n9:D
n3:duvernostUdaju
n17:S
n3:entitaPredkladatele
n19:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
418736
n3:idVysledku
RIV/00216305:26230/07:PU70842
n3:jazykVysledku
n6:eng
n3:klicovaSlova
scan, design for testability, education, tool, consequence, diagnosis, design, trade-off, constraints, testability, scan chain
n3:klicoveSlovo
n10:scan n10:tool n10:consequence n10:design%20for%20testability n10:testability n10:scan%20chain n10:diagnosis n10:trade-off n10:constraints n10:design n10:education
n3:kontrolniKodProRIV
[0C347130D126]
n3:mistoKonaniAkce
Brno
n3:mistoVydani
Brno
n3:nazevZdroje
Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference
n3:obor
n14:JC
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
1
n3:projekt
n15:GP102%2F05%2FP193
n3:rokUplatneniVysledku
n16:2007
n3:tvurceVysledku
Strnadel, Josef
n3:typAkce
n4:WRD
n3:zahajeniAkce
2007-09-20+02:00
n3:zamer
n11:MSM0021630528
s:numberOfPages
6
n8:hasPublisher
Vysoké učení technické v Brně
n18:isbn
978-80-214-3470-7
n21:organizacniJednotka
26230