This HTML5 document contains 45 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

Prefix	IRI
n14	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dcterms	http://purl.org/dc/terms/
n17	http://localhost/temp/predkladatel/
n11	http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n18	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n15	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n5	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n10	https://schema.org/
n20	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66981%21RIV07-GA0-26230___/
s	http://schema.org/
skos	http://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdf	http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n13	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdh	http://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n19	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n6	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n21	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n4	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n16	http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item

n2:RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66981%21RIV07-GA0-26230___

rdf:type

n5:Vysledek skos:Concept

dcterms:description

The paper deals with the test scheduling optimization for digital systems. There can be two modes of operation detected in digital systems - normal operation mode and test mode. As proven by experiments in the test mode there is generally higher power consumption than in normal operation mode. By using appropriate test scheduling methods it is possible to lower power consumption during the test to the acceptable level. In practice these methods could be used for digital systems powered from batteries and for digital systems with high level of integration and limited cooling capabilities. Příspěvek se zabývá optimalizací plánování testu číslicových obvodů a to zejména optimalizací z hlediska příkonu obvodu během aplikace testu. V diagnostickém režimu činnosti obvodu lze totiž vysledovat zvýšený příkon oproti běžnému funkčnímu režimu činnosti obvodu. Použitím vhodných metod plánování testu je však možné příkon v diagnostickém režimu podstatně snížit. V praxi lze popisované postupy s výhodou uplatnit např. u číslicových obvodů napájených z baterií nebo u číslicových obvodů s vysokým stupněm integrace a s omezenými možnostmi chlazení Příspěvek se zabývá optimalizací plánování testu číslicových obvodů a to zejména optimalizací z hlediska příkonu obvodu během aplikace testu. V diagnostickém režimu činnosti obvodu lze totiž vysledovat zvýšený příkon oproti běžnému funkčnímu režimu činnosti obvodu. Použitím vhodných metod plánování testu je však možné příkon v diagnostickém režimu podstatně snížit. V praxi lze popisované postupy s výhodou uplatnit např. u číslicových obvodů napájených z baterií nebo u číslicových obvodů s vysokým stupněm integrace a s omezenými možnostmi chlazení

dcterms:title

Power constrained test scheduling optimization for digital systems Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu

skos:prefLabel

Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu Power constrained test scheduling optimization for digital systems

skos:notation

RIV/00216305:26230/06:PU66981!RIV07-GA0-26230___

n3:strany

143-148

n3:aktivita

n19:P

n3:aktivity

P(GA102/04/0737)

n3:dodaniDat

n16:2007

n3:domaciTvurceVysledku

n15:5075645

n3:druhVysledku

n21:D

n3:duvernostUdaju

n13:S

n3:entitaPredkladatele

n20:predkladatel

n3:idSjednocenehoVysledku

490826

n3:idVysledku

RIV/00216305:26230/06:PU66981

n3:jazykVysledku

n6:cze

n3:klicovaSlova

test schedule, testing, power consumption, test schedule optimization, digital circuit

n3:klicoveSlovo

n9:test%20schedule n9:test%20schedule%20optimization n9:digital%20circuit n9:power%20consumption n9:testing

n3:kontrolniKodProRIV

[D7A5EA1169DD]

n3:mistoKonaniAkce

Hotel Podjavorník, Papradno, Považská Bystric

n3:mistoVydani

Bratislava

n3:nazevZdroje

Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia

n3:obor

n4:JC

n3:pocetDomacichTvurcuVysledku

1

n3:pocetTvurcuVysledku

1

n3:projekt

n18:GA102%2F04%2F0737

n3:rokUplatneniVysledku

n16:2006

n3:tvurceVysledku

Škarvada, Jaroslav

n3:typAkce

n14:EUR

n3:zahajeniAkce

2006-09-18+02:00

s:numberOfPages

6

n11:hasPublisher

Ústav informatiky SAV

n10:isbn

80-969202-2-7

n17:organizacniJednotka

26230