This HTML5 document contains 54 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

Prefix	IRI
n19	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66866%21RIV07-GA0-26230___/
n16	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dcterms	http://purl.org/dc/terms/
n20	http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n9	http://localhost/temp/predkladatel/
n15	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n13	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n6	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n12	https://schema.org/
s	http://schema.org/
skos	http://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdf	http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n4	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n21	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdh	http://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n14	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n18	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n8	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n17	http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item

n2:RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66866%21RIV07-GA0-26230___

rdf:type

n6:Vysledek skos:Concept

dcterms:description

Ve článku jsou představeny základní vlastnosti nástroje pro výuku a prosvičování principů souvisejících se scan technikou návrhu pro snadnou testovatelnost. Je nastíněno, jak lze daný nástroj využít ve výukovém procesu, a to zejména při ilustraci vztahů mezi návrhovými a diagnostickými vlastnostmi číslicového systému. In the paper, upgraded version of our tool for learning and training of scan design for testability technique principles and its consequences to parameters of embedded system is presented. It is outlined how the tool can be utilized in education process in order to ilustrate relation between design and diagnostic parameters of embeded system. In the paper, upgraded version of our tool for learning and training of scan design for testability technique principles and its consequences to parameters of embedded system is presented. It is outlined how the tool can be utilized in education process in order to ilustrate relation between design and diagnostic parameters of embeded system.

dcterms:title

SET: Interaktivní nástroj pro výuku a procvičování principů scan DFT technik a jejich vlivu na parametry vestavěných systémů SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System

skos:prefLabel

SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System SET: Interaktivní nástroj pro výuku a procvičování principů scan DFT technik a jejich vlivu na parametry vestavěných systémů

skos:notation

RIV/00216305:26230/06:PU66866!RIV07-GA0-26230___

n3:strany

497-498

n3:aktivita

n10:P

n3:aktivity

P(GA102/04/0737), P(GP102/05/P193)

n3:dodaniDat

n17:2007

n3:domaciTvurceVysledku

n13:8821968 n13:7825668

n3:druhVysledku

n18:D

n3:duvernostUdaju

n21:S

n3:entitaPredkladatele

n19:predkladatel

n3:idSjednocenehoVysledku

499038

n3:idVysledku

RIV/00216305:26230/06:PU66866

n3:jazykVysledku

n14:eng

n3:klicovaSlova

scan, design for testability, education, tool, consequence, diagnosis, design, trade-off, constraints, testability, scan chain

n3:klicoveSlovo

n4:education n4:diagnosis n4:scan n4:tool n4:design%20for%20testability n4:consequence n4:constraints n4:scan%20chain n4:testability n4:trade-off n4:design

n3:kontrolniKodProRIV

[BF451BC4FB89]

n3:mistoKonaniAkce

Potsdam

n3:mistoVydani

Los Alamitos, CA

n3:nazevZdroje

Proceedings of the 13th IEEE International Symposium and Workshop on the Engineering of Computer-Based Systems (ECBS)

n3:obor

n8:JC

n3:pocetDomacichTvurcuVysledku

2

n3:pocetTvurcuVysledku

2

n3:projekt

n15:GP102%2F05%2FP193 n15:GA102%2F04%2F0737

n3:rokUplatneniVysledku

n17:2006

n3:tvurceVysledku

Kotásek, Zdeněk Strnadel, Josef

n3:typAkce

n16:WRD

n3:zahajeniAkce

2006-03-26+01:00

s:numberOfPages

2

n20:hasPublisher

IEEE Computer Society

n12:isbn

0-7695-2546-6

n9:organizacniJednotka

26230