This HTML5 document contains 46 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n21http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n15http://localhost/temp/predkladatel/
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76331%21RIV10-GA0-26220___/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n18https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76331%21RIV10-GA0-26220___
rdf:type
n6:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
This article deals with the application of noise measurements for the assessment of the quality of the solar cell itself and production technology alike. The main focus of this study is the random n-level (in most case just two-level) impulse noise, usually referred to as microplasma noise. This noise is a consequence of local breakdowns in micro-sized regions and brings about a reduction of lifetime or a destruction of the PN junction. The method is suitable for non-destructive testing of semiconductor devices. Here we pay attention to very large junctions of the solar cells. U polovodičových PN přechodů se vlivem nedokonalostí při výrobě mohou vyskytovat lokální defekty. Jednou z možností jak posoudit tyto nedokonalosti nedestruktivní metodou, je využít přítomnosti mikroplazmatického šumu při závěrně polarizovaném přechodu. Šum mikroplazmy se projevuje ve formě dvou nebo více hladinových pravoúhlých impulzů. Pokud je pro měření použit napěťový zdroj, je mikroplazmatický šum charakteristický konstantní amplitudou, náhodným okamžikem vzniku a náhodnou dobou trvání. Tento šum patří do kategorie impulsního šumu, který je způsoben lokálními lavinovými výboji v malé oblasti přechodu a v místech, kde dislokace protíná PN přechod. Tento druh šumu lze nalézt u mnoha typů součástek jako například GaAsP LED diod, vysokonapěťových diod a je přítomný i u námi zkoumaných vzorků solárních článků. Ukazuje se, že studiem mikroplazmatického šumu lze získat velmi cenné informace o přechodu a je velm U polovodičových PN přechodů se vlivem nedokonalostí při výrobě mohou vyskytovat lokální defekty. Jednou z možností jak posoudit tyto nedokonalosti nedestruktivní metodou, je využít přítomnosti mikroplazmatického šumu při závěrně polarizovaném přechodu. Šum mikroplazmy se projevuje ve formě dvou nebo více hladinových pravoúhlých impulzů. Pokud je pro měření použit napěťový zdroj, je mikroplazmatický šum charakteristický konstantní amplitudou, náhodným okamžikem vzniku a náhodnou dobou trvání. Tento šum patří do kategorie impulsního šumu, který je způsoben lokálními lavinovými výboji v malé oblasti přechodu a v místech, kde dislokace protíná PN přechod. Tento druh šumu lze nalézt u mnoha typů součástek jako například GaAsP LED diod, vysokonapěťových diod a je přítomný i u námi zkoumaných vzorků solárních článků. Ukazuje se, že studiem mikroplazmatického šumu lze získat velmi cenné informace o přechodu a je velm
dcterms:title
Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii Non-destructive tensting of solar cell based on noise spectroscopy
skos:prefLabel
Non-destructive tensting of solar cell based on noise spectroscopy Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii
skos:notation
RIV/00216305:26220/08:PU76331!RIV10-GA0-26220___
n3:aktivita
n13:P
n3:aktivity
P(GA102/06/1551)
n3:dodaniDat
n7:2010
n3:domaciTvurceVysledku
n4:3673332 n4:3502465 n4:2967677
n3:druhVysledku
n17:D
n3:duvernostUdaju
n10:S
n3:entitaPredkladatele
n16:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
382053
n3:idVysledku
RIV/00216305:26220/08:PU76331
n3:jazykVysledku
n8:cze
n3:klicovaSlova
Solar cell, microplazma noise, IV curve
n3:klicoveSlovo
n5:IV%20curve n5:Solar%20cell n5:microplazma%20noise
n3:kontrolniKodProRIV
[1BCA21601443]
n3:mistoKonaniAkce
Brno
n3:mistoVydani
Rožnov pod Radhoštěm
n3:nazevZdroje
Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference
n3:obor
n11:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
3
n3:projekt
n14:GA102%2F06%2F1551
n3:rokUplatneniVysledku
n7:2008
n3:tvurceVysledku
Macků, Robert Koktavý, Pavel Škarvada, Pavel
n3:typAkce
n20:EUR
n3:zahajeniAkce
2008-11-03+01:00
s:numberOfPages
5
n21:hasPublisher
Czech RE Agency
n18:isbn
978-80-254-3528-1
n15:organizacniJednotka
26220