This HTML5 document contains 45 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n10http://localhost/temp/predkladatel/
n17http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/licencniPoplatek/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APR23395%21RIV10-MSM-26220___/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n6http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APR23395%21RIV10-MSM-26220___
rdf:type
skos:Concept n19:Vysledek
dcterms:description
Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku. One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Microplasma noise measurement for studding the solar cells is quite difficult. A complication arises because of low level signal, temperature dependence and electromagnetic interference. For measurement purposes has been developed operating software. This software finds use where is essential precise and high speed automatic measurement. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed simultaneously. Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku.
dcterms:title
Narrowband noise measurement of solar cell - UniNoise Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise
skos:prefLabel
Narrowband noise measurement of solar cell - UniNoise Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise
skos:notation
RIV/00216305:26220/08:PR23395!RIV10-MSM-26220___
n5:aktivita
n8:Z n8:P
n5:aktivity
P(GA102/06/1551), Z(MSM0021630503)
n5:dodaniDat
n6:2010
n5:domaciTvurceVysledku
n13:2967677 n13:3673332
n5:druhVysledku
n18:R
n5:duvernostUdaju
n7:S
n5:entitaPredkladatele
n12:predkladatel
n5:idSjednocenehoVysledku
378554
n5:idVysledku
RIV/00216305:26220/08:PR23395
n5:interniIdentifikace
UniNoise v.2.47
n5:jazykVysledku
n11:cze
n5:klicovaSlova
IV-characteristic, narrowband noise signal, pn junction, solar cell
n5:klicoveSlovo
n14:IV-characteristic n14:pn%20junction n14:narrowband%20noise%20signal n14:solar%20cell
n5:kontrolniKodProRIV
[A80F0589C278]
n5:licencniPoplatek
n16:N
n5:lokalizaceVysledku
http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86 Laboratoře UFYZ
n5:obor
n20:BM
n5:pocetDomacichTvurcuVysledku
2
n5:pocetTvurcuVysledku
2
n5:projekt
n17:GA102%2F06%2F1551
n5:rokUplatneniVysledku
n6:2008
n5:technickeParametry
Automatizovaný software, podporované komunikační rozhranní RS-232 a IEEE488 (GPIB), automatický sběr dat, využívá softwarový PID pro stabilizaci napětí na solárním článku, přehledové sledování měřených charakteristik, archivace a
n5:tvurceVysledku
Škarvada, Pavel Macků, Robert
n5:vlastnik
n12:vlastnikVysledku
n5:vyuzitiJinymSubjektem
n15:A
n5:zamer
n9:MSM0021630503
n10:organizacniJednotka
26220