This HTML5 document contains 53 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n18http://localhost/temp/predkladatel/
n6http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n17https://schema.org/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70070%21RIV08-GA0-26220___/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n15http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70070%21RIV08-GA0-26220___
rdf:type
skos:Concept n20:Vysledek
dcterms:description
One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Usage of the microplasma noise measurement for studding the solar cells is shown in this paper. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed. One of the parameter in view of the microplasma noise is statistical characteristics of impulse time duration and impulse time separation. Coefficients g and r characterizing two-state stochastic generation-recombination type process may be obtained from the statistical characteristics. Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces. Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces.
dcterms:title
Metodika měření šumu solárních článků Solar cell noise measurement methodology Metodika měření šumu solárních článků
skos:prefLabel
Metodika měření šumu solárních článků Solar cell noise measurement methodology Metodika měření šumu solárních článků
skos:notation
RIV/00216305:26220/07:PU70070!RIV08-GA0-26220___
n3:strany
45-48
n3:aktivita
n12:Z n12:P
n3:aktivity
P(GA102/06/1551), Z(MSM0021630503)
n3:dodaniDat
n15:2008
n3:domaciTvurceVysledku
n10:3673332 n10:2967677 n10:3502465
n3:druhVysledku
n21:D
n3:duvernostUdaju
n14:S
n3:entitaPredkladatele
n16:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
433290
n3:idVysledku
RIV/00216305:26220/07:PU70070
n3:jazykVysledku
n7:cze
n3:klicovaSlova
Microplasma noise, Impulse current, VA characteristics, Impulse duration, Impulse separation, Statistical characteristics, PN junction
n3:klicoveSlovo
n4:Impulse%20duration n4:Impulse%20separation n4:PN%20junction n4:Impulse%20current n4:VA%20characteristics n4:Statistical%20characteristics n4:Microplasma%20noise
n3:kontrolniKodProRIV
[DE8F3817E31F]
n3:mistoKonaniAkce
Nečtiny
n3:mistoVydani
Plzeň
n3:nazevZdroje
Elektronika a informatika 2007
n3:obor
n22:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
3
n3:projekt
n19:GA102%2F06%2F1551
n3:rokUplatneniVysledku
n15:2007
n3:tvurceVysledku
Koktavý, Pavel Macků, Robert Škarvada, Pavel
n3:typAkce
n13:CST
n3:zahajeniAkce
2007-10-31+01:00
n3:zamer
n8:MSM0021630503
s:numberOfPages
4
n6:hasPublisher
Západočeská univerzita v Plzni
n17:isbn
978-80-7043-572-4
n18:organizacniJednotka
26220