This HTML5 document contains 46 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n19http://localhost/temp/predkladatel/
n16http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n20https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44586%21RIV%2F2005%2FAV0%2F262205%2FN/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n11http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44586%21RIV%2F2005%2FAV0%2F262205%2FN
rdf:type
n15:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Detection of backscattered electrons (BSE) in scanning electron microscopy (SEM) serves as an auxiliary method in the study of surfaces and composition of materials. BSE have properties that are different from those of usually used secondary electrons (SE). The achievement of the theoretical limit of resolution (0,6 - 0,8 nm for SE and 0,9 nm for BSE) depends not only on the properties of electron source, properties of electron optics, specimen preparation technique, type of electrons, but also on the ddetection system efficiency. Detekce zpětněodražených elektronů (BSE)v SEM je exaktní metoda pro studium povrchů a složení materiálů. BSE mají vlastnosti, které jsou odlišné od těch jež mají běžně používané sekundární elektrony (SE). Teoretický limit rozlišení (0,6-0,8 nm pro SE a 0,9 nm pro BSE) nejenom na vlastnostech elektronového zdroje, elektronové optiky, technice přípravy vzorku, typu elektronů, ale také na účinnosti detekčního systému. Detection of backscattered electrons (BSE) in scanning electron microscopy (SEM) serves as an auxiliary method in the study of surfaces and composition of materials. BSE have properties that are different from those of usually used secondary electrons (SE). The achievement of the theoretical limit of resolution (0,6 - 0,8 nm for SE and 0,9 nm for BSE) depends not only on the properties of electron source, properties of electron optics, specimen preparation technique, type of electrons, but also on the ddetection system efficiency.
dcterms:title
YAG II scintilátor pro zobrazování s vysokým rozlišením v SEM New Type of YAG-II Scintillator for Nanoresolution BSE Imaging in SEM New Type of YAG-II Scintillator for Nanoresolution BSE Imaging in SEM
skos:prefLabel
YAG II scintilátor pro zobrazování s vysokým rozlišením v SEM New Type of YAG-II Scintillator for Nanoresolution BSE Imaging in SEM New Type of YAG-II Scintillator for Nanoresolution BSE Imaging in SEM
skos:notation
RIV/00216305:26220/04:PU44586!RIV/2005/AV0/262205/N
n3:strany
11-12
n3:aktivita
n10:P
n3:aktivity
P(IBS2065107)
n3:dodaniDat
n11:2005
n3:domaciTvurceVysledku
n12:1783017 n12:7392648
n3:druhVysledku
n21:D
n3:duvernostUdaju
n13:S
n3:entitaPredkladatele
n4:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
576205
n3:idVysledku
RIV/00216305:26220/04:PU44586
n3:jazykVysledku
n18:eng
n3:klicovaSlova
scanning electron microscopy, YAG scintillator, backscattered electrons
n3:klicoveSlovo
n6:YAG%20scintillator n6:scanning%20electron%20microscopy n6:backscattered%20electrons
n3:kontrolniKodProRIV
[C79CD3FCFF68]
n3:mistoKonaniAkce
Skalský Dvůr
n3:mistoVydani
Brno
n3:nazevZdroje
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation
n3:obor
n17:JA
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
2
n3:pocetTvurcuVysledku
3
n3:projekt
n7:IBS2065107
n3:rokUplatneniVysledku
n11:2004
n3:tvurceVysledku
Schauer, Petr Wandrol, Petr Autrata, Rudolf
n3:typAkce
n9:WRD
n3:zahajeniAkce
2004-07-12+02:00
s:numberOfPages
2
n16:hasPublisher
Ústav přístrojové techniky AV ČR
n20:isbn
80-239-3246-2
n19:organizacniJednotka
26220