This HTML5 document contains 48 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n14http://localhost/temp/predkladatel/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26210%2F10%3APR25035%21RIV11-MSM-26210___/
n17http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/podDruhVysledku/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/kategorie/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n11http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26210%2F10%3APR25035%21RIV11-MSM-26210___
rdf:type
skos:Concept n19:Vysledek
dcterms:description
The apparatus enables us to measure also a very non-isotropic angular distribution of electromagnetic waves scattered from arbitrary surfaces of solids in infrared and visible spectral range. Adjustable positions of its individual mechanical parts enable us to measure the light scattering from a surface under study in various orientations of this surface relatively to an incident light laser beam (Semiconductor laser Thorlabs LDM1550 operating in the wavelength of 1550 nm, semiconductor laser Thorlabs LDM 635 operating in the wavelength of 635 nm and Ar-Kr laser adjustable in 12 wavelengths in visible spectral range) within a whole hemisphere above the given surface (the centre of the hemisphere is identical with the centre of the surface area irradiated) in a step given by a receiving angle of a photodiode (InGaAs PIN fotodioda Hamamatsu G10899 - 03K, the side of the active area of the photodiode is 3 mm, the distance from the photodiode to the centre of the irradiated surface area equals 200 mm) whi Zařízení umožňuje měřit i výrazně anizotropní úhlové rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného z libovolných povrchů pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra. Nastavitelné polohy jeho jednotlivých mechanických částí umožňují měřit rozptyl světla na studovaném povrchu při jeho různých orientacích vůči dopadajícímu zdroji elektromagnetického záření (polovodičový laser Thorlabs LDM1550 s vlnovou délkou 1550 nm a polovodičový laser Thorlabs LDM 635 s s vlnovou délkou 635 nm, Ar-Kr laser laditelný na 12 vlnových délek vystupujícího světla ve viditelné oblasti spektra) v celé hemisféře nad daným povrchem (střed hemisféry je totožný se středem ozářené plochy povrchu) s krokem daným přijímacím úhlem fotodiody (InGaAs PIN fotodioda Hamamatsu G10899 - 03K, délka hrany aktivní plochy diody je rovna 3 mm, vzdálenost dioda - střed ozářené plochy povrchu je rovna 200 mm), která je použita jak Zařízení umožňuje měřit i výrazně anizotropní úhlové rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného z libovolných povrchů pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra. Nastavitelné polohy jeho jednotlivých mechanických částí umožňují měřit rozptyl světla na studovaném povrchu při jeho různých orientacích vůči dopadajícímu zdroji elektromagnetického záření (polovodičový laser Thorlabs LDM1550 s vlnovou délkou 1550 nm a polovodičový laser Thorlabs LDM 635 s s vlnovou délkou 635 nm, Ar-Kr laser laditelný na 12 vlnových délek vystupujícího světla ve viditelné oblasti spektra) v celé hemisféře nad daným povrchem (střed hemisféry je totožný se středem ozářené plochy povrchu) s krokem daným přijímacím úhlem fotodiody (InGaAs PIN fotodioda Hamamatsu G10899 - 03K, délka hrany aktivní plochy diody je rovna 3 mm, vzdálenost dioda - střed ozářené plochy povrchu je rovna 200 mm), která je použita jak
dcterms:title
Zařízení pro měření úhlového rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného na površích pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra Zařízení pro měření úhlového rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného na površích pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra Device for measurement of electromagnetic waves scattering from surfaces of solids within infrared and visible spectral range
skos:prefLabel
Zařízení pro měření úhlového rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného na površích pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra Zařízení pro měření úhlového rozdělení intenzity elektromagnetického záření rozptýleného na površích pevných těles v infračervené a viditelné oblasti spektra Device for measurement of electromagnetic waves scattering from surfaces of solids within infrared and visible spectral range
skos:notation
RIV/00216305:26210/10:PR25035!RIV11-MSM-26210___
n3:aktivita
n6:Z n6:P
n3:aktivity
P(FR-TI1/168), Z(MSM0021630518)
n3:dodaniDat
n11:2011
n3:domaciTvurceVysledku
n17:9240497 n17:2393646 n17:5533996 n17:2794187
n3:druhVysledku
n20:G%2FB
n3:duvernostUdaju
n18:S
n3:ekonomickeParametry
Náklady na vývoj zařízení: 1 200 000 Kč. Zařízení je využíváno při řešení projektu MPO, ev. č. ev.č. FR-TI1/168 (Barevné solární články s vysokou účinností pro architektonické aplikace), výzkumného záměru MSM 0021630518 (S
n3:entitaPredkladatele
n12:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
299559
n3:idVysledku
RIV/00216305:26210/10:PR25035
n3:interniIdentifikace
SM II
n3:jazykVysledku
n10:cze
n3:kategorie
n15:A
n3:klicovaSlova
scattering of electromagnetic waves, instrumentation
n3:klicoveSlovo
n5:scattering%20of%20electromagnetic%20waves n5:instrumentation
n3:kontrolniKodProRIV
[2CC672B672AD]
n3:lokalizaceVysledku
Laboratoř koherenční optiky ÚFI FSI VUT v Brně, budova A2, místnost 218
n3:obor
n8:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
4
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:projekt
n13:FR-TI1%2F168
n3:rokUplatneniVysledku
n11:2010
n3:technickeParametry
délka 330mm, šířka 510 mm, výška 540 mm, hmotnost 7kg. Funkční vzorek je využíván k řešení vědeckovýzkumných úkolů na pracovišti řešitele v Laboratoři koherenční optiky, budova A2, místnost 218. http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.p
n3:tvurceVysledku
Ohlídal, Miloslav Gründling, Vladimír Petrilak, Michal Malina, Radomír
n3:vlastnik
n12:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n9:N
n3:zamer
n16:MSM0021630518
n14:organizacniJednotka
26210