This HTML5 document contains 53 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

Prefix	IRI
dcterms	http://purl.org/dc/terms/
n10	http://localhost/temp/predkladatel/
n13	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n6	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n11	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
skos	http://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n17	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/licencniPoplatek/
n2	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdf	http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26210%2F09%3APR24293%21RIV10-GA0-26210___/
n12	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n9	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n18	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdh	http://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n15	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n4	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n19	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n14	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n16	http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item

n2:RIV%2F00216305%3A26210%2F09%3APR24293%21RIV10-GA0-26210___

rdf:type

n11:Vysledek skos:Concept

dcterms:description

Soubor programů umožňující řízení hloubkových profiloměrů SIMS, TOF-LEIS a XPS. Jsou zde zahrnuty programy pro zpracování a simulace měřených dat metodou TOF-LEIS. Soubor programů umožňující řízení hloubkových profiloměrů SIMS, TOF-LEIS a XPS. Jsou zde zahrnuty programy pro zpracování a simulace měřených dat metodou TOF-LEIS. Software package for controlling of SIMS, TOF-SIMS and XPS profilometers. It includes software for evaluation and simulation of TOF-LEIS measured data.

dcterms:title

IonProfile IonProfile IonProfile

skos:prefLabel

IonProfile IonProfile IonProfile

skos:notation

RIV/00216305:26210/09:PR24293!RIV10-GA0-26210___

n3:aktivita

n15:P

n3:aktivity

P(GP202/07/P486)

n3:dodaniDat

n16:2010

n3:domaciTvurceVysledku

n6:6804233 n6:5287081 n6:6614922 n6:8292361 n6:9597719

n3:druhVysledku

n14:R

n3:duvernostUdaju

n18:S

n3:entitaPredkladatele

n5:predkladatel

n3:idSjednocenehoVysledku

320400

n3:idVysledku

RIV/00216305:26210/09:PR24293

n3:interniIdentifikace

Software pro SIMS, LEIS a XPS

n3:jazykVysledku

n4:cze

n3:klicovaSlova

SIMS, XPS, TOF, LEIS, profiling, simulation, sputtering, ions

n3:klicoveSlovo

n9:SIMS n9:ions n9:profiling n9:simulation n9:sputtering n9:LEIS n9:TOF n9:XPS

n3:kontrolniKodProRIV

[9C27908F54E2]

n3:licencniPoplatek

n17:N

n3:lokalizaceVysledku

http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=0&Id=1854 Laboratoř 518

n3:obor

n19:BM

n3:pocetDomacichTvurcuVysledku

5

n3:pocetTvurcuVysledku

5

n3:projekt

n13:GP202%2F07%2FP486

n3:rokUplatneniVysledku

n16:2009

n3:technickeParametry

Programováno v Delphi 6.0

n3:tvurceVysledku

Pavera, Michal Bábor, Petr Duda, Radek Šikola, Tomáš Polčák, Josef

n3:vlastnik

n5:vlastnikVysledku

n3:vyuzitiJinymSubjektem

n12:A

n10:organizacniJednotka

26210