This HTML5 document contains 42 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n17http://localhost/temp/predkladatel/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/podDruhVysledku/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26210%2F08%3APR23343%21RIV10-MSM-26210___/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/kategorie/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/vyuzitiJinymSubjektem/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n14http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26210%2F08%3APR23343%21RIV10-MSM-26210___
rdf:type
skos:Concept n18:Vysledek
dcterms:description
The device is optical measurement equipment for surface topography study in range of nm. The equipment is based on industrial microscope Nikon Eclipse LV150 with telecentric light beam and episcopic illuminator. The microscope is fitted with Mirau interference objective and piezoelectric transducer operated by control unit connected with a PC. Halogen bulb is used as a white light source for monochromatic measurement it is complemented by narrowband filter. Interferograms are taken by monochromatic CMOS camera and digitally evaluated in the PC. Precise levelling table ensure the horizontal position for measurement results. The whole apparatus is fitted on an optical table to reduce vibration transmition from ambient space. Zařízení slouží pro měření topografie povrchu s vertikální rozlišitelností v desetinách nm a dynamickým rozsahem do desítek mikrometrů. Sestava se skládá z průmyslového mikroskopu s telecentrickým chodem paprsků a episkopickým osvětlovačem Nikon Eclipse LV150, na který je namontován Miraův interferenční objektiv s piezoelektrickým posuvem. Ten je ovládán řídící jednotkou piezoelektrického posuvu, která je propojena s počítačem. Jako zdroj bílého světla se využívá halogenové žárovky, pro monochromatické měření je doplněn o úzkopásmový filtr. Interferenční obraz je snímám monochromatickou CMOS kamerou a digitálně zpracováván v PC. K ustavení měřeného povrchu do roviny se používá naklápěcího stolku s mikrometrickými šrouby. Celá měřicí sestava je upevněna na stole se vzduchovým tlumením, který redukuje přenos vibrací z okolí. Zařízení slouží pro měření topografie povrchu s vertikální rozlišitelností v desetinách nm a dynamickým rozsahem do desítek mikrometrů. Sestava se skládá z průmyslového mikroskopu s telecentrickým chodem paprsků a episkopickým osvětlovačem Nikon Eclipse LV150, na který je namontován Miraův interferenční objektiv s piezoelektrickým posuvem. Ten je ovládán řídící jednotkou piezoelektrického posuvu, která je propojena s počítačem. Jako zdroj bílého světla se využívá halogenové žárovky, pro monochromatické měření je doplněn o úzkopásmový filtr. Interferenční obraz je snímám monochromatickou CMOS kamerou a digitálně zpracováván v PC. K ustavení měřeného povrchu do roviny se používá naklápěcího stolku s mikrometrickými šrouby. Celá měřicí sestava je upevněna na stole se vzduchovým tlumením, který redukuje přenos vibrací z okolí.
dcterms:title
3D optický profilometr 3D optický profilometr 3D optical profiler
skos:prefLabel
3D optický profilometr 3D optický profilometr 3D optical profiler
skos:notation
RIV/00216305:26210/08:PR23343!RIV10-MSM-26210___
n3:aktivita
n9:Z
n3:aktivity
Z(MSM0021630508)
n3:dodaniDat
n14:2010
n3:domaciTvurceVysledku
n10:2728281
n3:druhVysledku
n19:G%2FB
n3:duvernostUdaju
n6:S
n3:ekonomickeParametry
náklady na pořízení funkčního vzorku: 450 tis. Kč
n3:entitaPredkladatele
n12:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
407647
n3:idVysledku
RIV/00216305:26210/08:PR23343
n3:interniIdentifikace
3D optický profilometr
n3:jazykVysledku
n16:cze
n3:kategorie
n5:A
n3:klicovaSlova
profiler, PZT, surface topography, interferometry
n3:klicoveSlovo
n4:surface%20topography n4:PZT n4:profiler n4:interferometry
n3:kontrolniKodProRIV
[8910A4552DA8]
n3:lokalizaceVysledku
laboratoř č. A2/421 ÚSTAV KONSTRUOVÁNÍ Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně Technická 2896/2 616 69 BRNO Česká Republika
n3:obor
n13:JR
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
1
n3:pocetTvurcuVysledku
1
n3:rokUplatneniVysledku
n14:2008
n3:technickeParametry
Maximální rozměry měřitelné součásti (š-d-v) 400-300-240. Funkční vzorek je využíván na pracovišti řešitele místnost A2/421 - Tribologická laboratoř 2 ÚSTAV KONSTRUOVÁNÍ Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické
n3:tvurceVysledku
Šperka, Petr
n3:vlastnik
n12:vlastnikVysledku
n3:vyuzitiJinymSubjektem
n11:N
n3:zamer
n15:MSM0021630508
n17:organizacniJednotka
26210