This HTML5 document contains 47 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n16http://localhost/temp/predkladatel/
n15http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n7https://schema.org/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216305%3A26210%2F05%3APU54589%21RIV07-GA0-26210___/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n21http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216305%3A26210%2F05%3APU54589%21RIV07-GA0-26210___
rdf:type
skos:Concept n17:Vysledek
dcterms:description
A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths. A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths. Je prezentován nový přístup k měření drsnosti povrchu založený na použití digitální dvouvlnové holografické interferenční mikroskopii se syntetickou vlnovou délkou. Dva hologramy náhodně drsného povrchu jsou postupně při dvou vlnových délkách zaznamenány CCD kamerou. Digitální součet obou hologramů je numericky rekonstruován. Rekonstruované digitální vlny spolu numericky interferují. Parametry měřeného drsného povrchu mohou být určeny z tvaru proužků ve vzniklém digitálním interferogramu. Rozsah měřitelné drsnosti povrchu je určen syntetickou vlnovou délkou, která je nepřímo úměrná rozdílu použitých vlnových délek.
dcterms:title
Dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie pro měření drsnosti povrchu Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement
skos:prefLabel
Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement Dvouvlnová holografická interferenční mikroskopie pro měření drsnosti povrchu
skos:notation
RIV/00216305:26210/05:PU54589!RIV07-GA0-26210___
n3:strany
59450I-1
n3:aktivita
n10:P
n3:aktivity
P(GA101/01/1104)
n3:dodaniDat
n21:2007
n3:domaciTvurceVysledku
n4:6489710 n4:6395082 n4:2794187
n3:druhVysledku
n12:D
n3:duvernostUdaju
n20:S
n3:entitaPredkladatele
n13:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
518133
n3:idVysledku
RIV/00216305:26210/05:PU54589
n3:jazykVysledku
n14:eng
n3:klicovaSlova
Digital two-wavelength hologgraphic interferometry, surface roughness measurement
n3:klicoveSlovo
n5:surface%20roughness%20measurement n5:Digital%20two-wavelength%20hologgraphic%20interferometry
n3:kontrolniKodProRIV
[34287A7984E4]
n3:mistoKonaniAkce
Nitra
n3:mistoVydani
Bellingham, Washington, USA
n3:nazevZdroje
14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics
n3:obor
n9:BH
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
4
n3:projekt
n11:GA101%2F01%2F1104
n3:rokUplatneniVysledku
n21:2005
n3:tvurceVysledku
Šír, Luděk Ohlídal, Miloslav Jákl, Miloš Ohlídal, Ivan
n3:typAkce
n19:EUR
n3:zahajeniAkce
2004-09-13+02:00
s:numberOfPages
8
n15:hasPublisher
Neuveden
n7:isbn
0-8194-5951-8
n16:organizacniJednotka
26210