This HTML5 document contains 52 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n17http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n12http://localhost/temp/predkladatel/
n20http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216275%3A25310%2F08%3A00007852%21RIV09-MSM-25310___/
n19https://schema.org/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n16http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216275%3A25310%2F08%3A00007852%21RIV09-MSM-25310___
rdf:type
skos:Concept n21:Vysledek
dcterms:description
S ohledem na aplikace PC RAM byla provedena charakterizace tenkých vrstev Ge2Sb2Te5 připravených RF magnetronovým naprašováním . RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application were characterized. RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application were characterized.
dcterms:title
Characterization of RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application. Charakterizace tenkých vrstev Ge2Sb2Te5 připravených RF magnetronovým naprašováním s ohledem na aplikace PC RAM. Characterization of RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application.
skos:prefLabel
Charakterizace tenkých vrstev Ge2Sb2Te5 připravených RF magnetronovým naprašováním s ohledem na aplikace PC RAM. Characterization of RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application. Characterization of RF magnetron sputtered Ge2Sb2Te5 thin films towards PC RAM application.
skos:notation
RIV/00216275:25310/08:00007852!RIV09-MSM-25310___
n4:aktivita
n13:Z n13:P
n4:aktivity
P(LC523), Z(MSM0021627501)
n4:dodaniDat
n16:2009
n4:domaciTvurceVysledku
n10:3359301 n10:1580388 n10:3110869
n4:druhVysledku
n22:D
n4:duvernostUdaju
n14:S
n4:entitaPredkladatele
n18:predkladatel
n4:idSjednocenehoVysledku
359613
n4:idVysledku
RIV/00216275:25310/08:00007852
n4:jazykVysledku
n6:eng
n4:klicovaSlova
amorphous chalcogenides; thin films; magnetron sputtering; Ge2Sb2Te5
n4:klicoveSlovo
n5:thin%20films n5:magnetron%20sputtering n5:amorphous%20chalcogenides n5:Ge2Sb2Te5
n4:kontrolniKodProRIV
[A18E018CD2ED]
n4:mistoKonaniAkce
Ghent, Belgium
n4:mistoVydani
Ghent
n4:nazevZdroje
Proceedings of ICTF14 & RSD2008
n4:obor
n15:JA
n4:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n4:pocetTvurcuVysledku
6
n4:projekt
n20:LC523
n4:rokUplatneniVysledku
n16:2008
n4:tvurceVysledku
Gutwirth, J. Přikryl, J. Frumar, Miloslav Vlček, Milan Bezdička, P. Wágner, Tomáš
n4:typAkce
n9:WRD
n4:zahajeniAkce
2008-11-20+01:00
n4:zamer
n8:MSM0021627501
s:numberOfPages
4
n17:hasPublisher
Ghent University
n19:isbn
978-90-334-7347-0
n12:organizacniJednotka
25310