This HTML5 document contains 49 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n18http://localhost/temp/predkladatel/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00011460%21RIV08-GA0-14310___/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n4http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00011460%21RIV08-GA0-14310___
rdf:type
n8:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
In this paper the influence of the technological conditions, i.e. As concentration, UV iradiation and anealing, on the optical constants, thickness and material parameters of chalcogenide As-S thin films is studied. For determining the values of the parameters mentioned the optical method based on interpreting experimental data consiting of spectral dependences of the transmittance measured at normal incidence and spectral dependences of the ellipsometric quantities measured for several incidence angles is used. Within the interpretation of the experimental data the Jellison-Modine dispersion model is employed. It is shown that this dispersion model is not suitable for interpreting the spectral dependences of the transmittance of the films studied. Moreover, within the interpretation of the experimental data the physical model containing on isotropic inhomogeneous layer covered with a non-absorbing overlayer is employed for representing the films under investigation. V článku je studován vliv technologických podmínek, tj. koncentrace As, UV záření a zahřívání, na optické konstanty, tloušťku a materiálové parametry tenkých vrstev chalkogenidů typu As-S. Pro určení hodnot těchto parametrů je využita optická metoda založená na interpretaci experimentálních dat sestávajících se spektrálních závislostí propustnosti měřené při kolmém dopadu světla a spektrálních závislostí elipsometrických veličin měřených v několika úhlech dopadu. V rámci interpretace experimentálních dat je využit Jellison-Modine dispersní model. V práci jsme ukázáno, že tento dispersní model není vhodný pro interpretaci spektrálních závislostí propustnosti studovaných tenkých vrstev. Navíc je při interpretaci experimentálních dat využit fyzikální model obsahující isotropní nehomogenní vrstvu pokrytou neabsorbující povrchovou vrstvou. In this paper the influence of the technological conditions, i.e. As concentration, UV iradiation and anealing, on the optical constants, thickness and material parameters of chalcogenide As-S thin films is studied. For determining the values of the parameters mentioned the optical method based on interpreting experimental data consiting of spectral dependences of the transmittance measured at normal incidence and spectral dependences of the ellipsometric quantities measured for several incidence angles is used. Within the interpretation of the experimental data the Jellison-Modine dispersion model is employed. It is shown that this dispersion model is not suitable for interpreting the spectral dependences of the transmittance of the films studied. Moreover, within the interpretation of the experimental data the physical model containing on isotropic inhomogeneous layer covered with a non-absorbing overlayer is employed for representing the films under investigation.
dcterms:title
Vliv složení, exposice a tepelného zahřívání na optické vlastnosti tenkých vrstev As-S chalkogenidů Influence of Composition, Exposure and Thermal Annealing on Optical Properties of As-S Chalcogenide Thin Films Influence of Composition, Exposure and Thermal Annealing on Optical Properties of As-S Chalcogenide Thin Films
skos:prefLabel
Influence of Composition, Exposure and Thermal Annealing on Optical Properties of As-S Chalcogenide Thin Films Influence of Composition, Exposure and Thermal Annealing on Optical Properties of As-S Chalcogenide Thin Films Vliv složení, exposice a tepelného zahřívání na optické vlastnosti tenkých vrstev As-S chalkogenidů
skos:notation
RIV/00216224:14310/04:00011460!RIV08-GA0-14310___
n3:strany
139-148
n3:aktivita
n5:P
n3:aktivity
P(GA203/00/0085)
n3:cisloPeriodika
1
n3:dodaniDat
n4:2008
n3:domaciTvurceVysledku
n12:3969622 n12:2026384 n12:9412921
n3:druhVysledku
n7:J
n3:duvernostUdaju
n17:S
n3:entitaPredkladatele
n11:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
567839
n3:idVysledku
RIV/00216224:14310/04:00011460
n3:jazykVysledku
n13:eng
n3:klicovaSlova
As-S chalcogenide films; Ellipsometry; Combined spectrophotometric method; Amorphous materials; Optical constants
n3:klicoveSlovo
n9:Optical%20constants n9:As-S%20chalcogenide%20films n9:Amorphous%20materials n9:Ellipsometry n9:Combined%20spectrophotometric%20method
n3:kodStatuVydavatele
RO - Rumunsko
n3:kontrolniKodProRIV
[8528D72B9CC6]
n3:nazevZdroje
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
n3:obor
n10:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
5
n3:projekt
n16:GA203%2F00%2F0085
n3:rokUplatneniVysledku
n4:2004
n3:svazekPeriodika
6
n3:tvurceVysledku
Ohlídal, Ivan Jedelský, Jaroslav Franta, Daniel Omasta, Jaroslav Frumar, Miroslav
s:issn
1454-4164
s:numberOfPages
10
n18:organizacniJednotka
14310